1.一种简易电路特性测试仪，其特征在于，包括电源模块、主控电路模块、信号发生模块、反向衰减电路模块、同向放大电路模块、输入参数测量模块、特定电路测试模块、输出参数测量模块、FPGA电路模块、ADC采集电路模块和显示模块；主控电路模块的信号输出端分别与信号发生模块、显示模块的信号输入端连接，信号发生模块的信号输出端与反向衰减电路模块信号输入端连接，反向衰减电路模块信号输出端与输入参数测量模块的信号输入端连接，输入参数测量模块信号输出端与同向放大电路模块的信号输入端连接，同向放大电路模块的信号输出端与ADC采集电路模块的信号输入端连接，ADC采集电路模块信号输出端与FPGA电路模块的信号输入端连接，FPGA电路模块的信号输出端与主控电路模块的信号输入端连接；特定电路测试模块分别与输入参数测量模块、输出参数测量模块连接，双向通信；输出参数测量模块的信号输出端还与ADC采集电路模块的信号输入端连接；电源模块为主控电路模块、信号发生模块、反向衰减电路模块、同向放大电路模块、输入参数测量模块、输出参数测量模块、FPGA电路模块、ADC采集电路模块和显示模块供电；

所述的特定电路测试模块，是采用晶体管9013搭建的简易放大电路，该简易放大电路元件可插拔。

2.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的主控电路模块，是基于STM32F103ZET6芯片的主控板电路。

3.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的信号发生模块，是基于AD9910芯片的DDS信号发生模块。

4.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的反向衰减电路模块，是基于NE5532放大器的反向放大电路；

所述的同向放大电路模块，是基于NE5532放大器的同向放大电路。

5.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的FPGA电路模块，是基于EP4CE6F17C8芯片的FPGA电路模块。

6.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的ADC采集电路模块，是基于AD9238芯片的双通道高速AD模块。

7.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的输入参数测量模块，采用三个G6K‑2F‑Y‑5V的电磁继电器和三个分别为1K、10K和50K的电阻构成，每个电磁继电器串联一个电阻，通过主控电路模块的输出高低电平分别控制不同的继电器接入电路的串联电阻，测量输入参数时多次测量不同的电阻进行计算提高精度，模块采用电源适配器接口提供5V供电。

8.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的输出参数测量模块，包括基于NE5532反向放大器和一个2K的电阻，ADC采集电路模块的AD口输入阻抗小，采用反向放大器提高隔离度进行ADC采集电路模块进行采集2K的电阻上的电压计算输出参数。

9.根据权利要求1所述的一种简易电路特性测试仪，其特征在于，所述的显示模块，为

4.3寸TFTLCD显示屏。