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专利号: 202021621203X
申请人: 黄嘉劲
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种新型的晶圆转速测量装置,其特征在于:包括支撑座(1)和从动轮(8),所述支撑座(1)下端安装有电机(3),电机(3)的活动端安装有主动轮(4),主动轮(4)驱动晶圆(2)旋转,所述主动轮(4)上方设置有连杆(6),所述连杆(6)一端安装有非接触式转速仪(7),连杆(6)另一端通过阻尼转轴(5)与支撑座(1)转动连接,所述从动轮(8)与一侧的晶圆(2)接触配合,从动轮(8)安装有与非接触式转速仪(7)配合的反光片(81),所述支撑座(1)安装有环绕晶圆(2)分布的多个测速组件(9)。

2.根据权利要求1所述的一种新型的晶圆转速测量装置,其特征在于:所述测速组件(9)包括支架(91)、接触式转速仪(92)、联轴器(93)、测速辊(94),支架(91)固定在支撑座(1)上,支架(91)上方安装有接触式转速仪(92),接触式转速仪(92)的活动端与右侧测速辊(94)通过联轴器(93)连接,测速辊(94)与晶圆(2)接触配合。

3.根据权利要求2所述的一种新型的晶圆转速测量装置,其特征在于:所述测速组件(9)还包括第一限位板(95)和第二限位板(96),测速辊(94)穿过第一限位板(95)和第二限位板(96),第一限位板(95)下端以及第二限位板(96)下端固定在支架(91)上,第二限位板(96)与测速辊(94)通过球轴承连接。

4.根据权利要求1所述的一种新型的晶圆转速测量装置,其特征在于:所述从动轮(8)的圆周面加工有磨砂层(82)。

5.根据权利要求1所述的一种新型的晶圆转速测量装置,其特征在于:所述主动轮(4)的圆周面经过磨砂工艺处理。

6.根据权利要求1所述的一种新型的晶圆转速测量装置,其特征在于:所述从动轮(8)、阻尼转轴(5)、非接触式转速仪(7)、反光片(81)至少设置有两组。

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