1.一种便于更换的半导体测试探针，包括安装板(1)和固定座(101)，所述安装板(1)底部固定安装有固定座(101)，其特征在于：所述固定座(101)下表面固定镶嵌有DC母插(2)，所述DC母插(2)内腔活动插接有DC公插(204)，所述DC公插(204)底部活动连接有探针(3)，所述探针(3)底部活动插接有伸缩探针(4)，所述探针(3)顶部固定连接有二号支撑弹簧(402)，且二号支撑弹簧(402)位于探针(3)内腔。

2.根据权利要求1所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述DC母插(2)内壁两侧均开设有凹槽(201)，所述凹槽(201)内腔均固定安装有一号支撑弹簧(202)，所述一号支撑弹簧(202)另一端均固定连接有限位球(203)。

3.根据权利要求2所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述DC公插(204)两侧壁均固定开设有限位槽(205)，且限位槽(205)和限位球(203)相互配合。

4.根据权利要求1所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述探针(3)顶部一体成型有螺纹头(301)。

5.根据权利要求4所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述DC公插(204)下表面固定开设有内螺纹槽(302)，且内螺纹槽(302)和螺纹头(301)螺纹相连。

6.根据权利要求1所述的一种便于更换的半导体测试探针，其特征在于：所述伸缩探针(4)底部一体成型有触针(401)，且触针(401)为锥形结构。