1.用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：包括底座（1），及设置在底座（1）外壁的横支撑座（2），及设置在底座（1）一面的限位凸块（6），及设置在横支撑座（2）一面内的敞开形限位凹槽（7），及设置在敞开形限位凹槽（7）内的定位螺孔（8），及设置在底座（1）上的圆盘（3），及设置在圆盘（3）一面的若干个限位凸柱（10），及设置在横支撑座（2）上的L形校正支架（4），及设置在L形校正支架（4）一端内的腰形通槽（11），及通过腰形通槽（11）、定位螺孔（8）将横支撑座（2）、L形校正支架（4）紧固的锁紧螺钉（12），及设置在L形校正支架（4）另一端侧壁的若干个校正限位横板（5），及分别设置在若干个校正限位横板（5）一端内的横校正限位凹槽（13）；所述圆盘（3）的一面设置有与限位凸块（6）相配合使用的限位凹槽；所述L形校正支架（4）的一端与敞开形限位凹槽（7）的连接端面设置有限位卡块。

2.根据权利要求1所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，还包括固定设置在限位凸块（6）外壁的旋转轴承（14），其中，圆盘（3）底面的限位凹槽卡入限位凸块（6）、旋转轴承（14），并通过旋转轴承（14）以限位凸块（6）、旋转轴承（14）为旋转中心旋转。

3.根据权利要求2所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，还包括设置在圆盘（3）一面内，且位于若干个限位凸柱（10）对称中心的圆形定位卡孔（9）。

4.根据权利要求3所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述圆盘（3）的直径尺寸大于底座（1）的直径尺寸，其中，圆盘（3）的直径尺寸为200mm‑350mm，底座（1）设置为且不仅限于圆形结构。

5.根据权利要求1所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述横支撑座（2）设置为且不仅限于条形板式结构。

6.根据权利要求1所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述若干个限位凸柱（10）的高度尺寸相同，且与圆盘（3）之间可采用拆卸式组装结构。

7.根据权利要求3所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述底座（1）、横支撑座（2）、限位凸块（6）、敞开形限位凹槽（7）和定位螺孔（8）为一体成型的合金不锈钢制得。

8.根据权利要求3所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述圆盘（3）、圆形定位卡孔（9）和若干个限位凸柱（10）为一体成型的合金不锈钢制得。

9.根据权利要求3所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述L形校正支架（4）、腰形通槽（11）、若干个校正限位横板（5）和横校正限位凹槽（13）为一体成型的合金不锈钢制得。

10.根据权利要求9所述的用于单晶叶片垂直度定位的校正仪，其特征在于：所述横校正限位凹槽（13）为且不仅限于横V形结构。