1.一种电子产品开发用老化测试装置，包括测试箱本体(1)，其特征在于，所述测试箱本体(1)前侧的侧壁开设有测试腔(2)，所述测试箱本体(1)前侧的侧壁通过合页转动连接有密封门板(3)，所述测试箱本体(1)下表面的四角处均固定连接有自锁万向轮(4)，所述测试腔(2)内设置有安装板(5)，所述安装板(5)下表面的四角处均固定连接有U型板(6)，所述U型板(6)相对一侧的侧壁之间固定连接有同一根固定轴(7)，所述固定轴(7)外活动套设有滚轮(8)，所述安装板(5)上侧的侧壁固定连接有固定板(9)，所述固定板(9)左侧的侧壁固定连接有螺纹杆(10)，所述螺纹杆(10)的杆壁活动套设有移动板(11)，所述移动板(11)左侧的侧壁开设有滑动孔(12)，所述螺纹杆(10)通过滑动孔(12)贯穿移动板(11)，所述螺纹杆(10)的杆壁螺纹套设有调节螺母(13)，所述调节螺母(13)位于移动板(11)的左侧，所述安装板(5)上侧的侧壁固定连接有U型限位杆(14)，所述固定板(9)与移动板(11)左侧的侧壁均开设有限位孔(15)，所述U型限位杆(14)通过限位孔(15)贯穿固定板(9)和移动板(11)，所述固定板(9)与移动板(11)相对一侧的侧壁均开设有轴孔(16)，两个所述轴孔(16)的孔壁均通过轴承转动连接有转轴(17)，所述固定板(9)右侧的侧壁固定连接有驱动电机(18)，所述驱动电机(18)的输出轴与转轴(17)固定连接，两个所述转轴(17)相对的一端均固定连接有压板(19)。

2.根据权利要求1所述的一种电子产品开发用老化测试装置，其特征在于，所述测试箱本体(1)左右两侧的侧壁均固定连接有固定块(20)，两个所述固定块(20)下侧的侧壁均开设有螺纹孔(21)，所述螺纹孔(21)内螺纹套接有调节螺杆(22)，所述调节螺杆(22)的两端均伸出螺纹孔(21)，所述调节螺杆(22)的下端固定连接有支撑座(23)，所述支撑座(23)下侧的侧壁固定连接有防滑垫(24)，所述调节螺杆(22)靠近上端的杆壁对称固定连接有两个拧杆(25)。

3.根据权利要求1所述的一种电子产品开发用老化测试装置，其特征在于，两个所述压板(19)相对一侧的侧壁均固定连接有橡胶板(26)。

4.根据权利要求1所述的一种电子产品开发用老化测试装置，其特征在于，所述固定板(9)右侧的侧壁固定连接有托板(27)，所述托板(27)上侧的侧壁与驱动电机(18)的下侧贴合，所述托板(27)下侧的侧壁与固定板(9)之间固定连接有支撑杆(28)。

5.根据权利要求1所述的一种电子产品开发用老化测试装置，其特征在于，所述测试腔(2)下侧的腔壁对称开设有两个滚动槽(29)，所述滚轮(8)位于滚动槽(29)内。

6.根据权利要求1所述的一种电子产品开发用老化测试装置，其特征在于，所述安装板(5)左右两侧的侧壁均固定连接有拉杆(30)。