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专利号: 2020228611825
申请人: 泰州市金鹰精密铸造有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-07-27
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,其特征在于:由储料箱(1),及设置在储料箱(1)两端底面的一组竖支撑腿(4),及设置在储料箱(1)上的进料口(2)、出料口(3),及设置在储料箱(1)下部内壁的密封板(8),及对称设置在密封板(8)内的一组密封板通孔(9),及两端分别与一组竖支撑腿(4)内壁连接的横气缸安装板(5),及与密封板(8)、横气缸安装板(5)相配合使用的反射组件,及与反射组件相配合使用的检测组件组成;所述反射组件,包括对称设置在横气缸安装板(5)上的一组竖气缸(10),及分别与一组竖气缸(10)连接的内螺纹孔连接套(19),及分别与内螺纹孔连接套(19)连接的螺杆(20),及分别设置在螺杆(20)上的一组锁紧螺母(23)、螺杆密封圈(24),及分别与螺杆(20)相配合使用的反射板定位耳板(21),及分别与反射板定位耳板(21)连接的反射板(18),其中,反射板定位耳板(21)内分别设置有与螺杆(20)相配合使用的螺杆通孔(22);所述检测组件,包括对称设置在储料箱(1)两侧外壁的第一形支撑板(25)、第二形支撑板(26),及分别设置在第一形支撑板(25)、第二形支撑板(26)一端的第一横气缸安装板(27)、第二横气缸安装板(28),及分别安装在第一横气缸安装板(27)、第二横气缸安装板(28)上的第一横气缸(29)、第二横气缸(30),及分别与第一横气缸(29)、第二横气缸(30)连接的第一横连接套(31)、第二横连接套(32),及分别与第一横连接套(31)、第二横连接套(32)连接的第一中空声波导管定位座(33)、第二中空声波导管定位座(34),及分别设置在第一中空声波导管定位座(33)、第二中空声波导管定位座(34)内的第一斜声波导管安装通孔(36)、第二斜声波导管安装通孔(37),及分别安装在第一斜声波导管安装通孔(36)、第二斜声波导管安装通孔(37)内的第一中空声波导管(39)、第二中空声波导管(38),其中,储料箱(1)上设置有与第一中空声波导管(39)、第二中空声波导管(38)相配合使用的腰形通槽(6),及设置在储料箱(1)上且与腰形通槽(6)、第一中空声波导管(39)、第二中空声波导管(38)相配合使用的腰形带通槽密封块(7)。

2.根据权利要求1所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,其特征在于:所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,还包括设置在密封板(8)内且位于一组密封板通孔(9)之间的支撑柱通孔(14),及一端贯穿支撑柱通孔(14)且与反射板(18)底面连接的竖支撑柱(15),及设置在竖支撑柱(15)上的竖支撑柱密封圈(16),及设置在竖支撑柱(15)另一端的半圆形限位圈(17),及设置在储料箱(1)底面内壁的辅助竖支撑柱(11),及设置在辅助竖支撑柱(11)一端的辅助半圆形限位圈(12),及设置在竖支撑柱(15)、辅助竖支撑柱(11)之间且与半圆形限位圈(17)、辅助半圆形限位圈(12)相配合使用的支撑滚珠(13)。

3.根据权利要求1或2所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,其特征在于:所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,还包括对称设置在储料箱(1)上部两侧内壁的第一定位横中空螺套(40)、第二定位横中空螺套(41),及分别与第一定位横中空螺套(40)、第二定位横中空螺套(41)连接的第一横螺杆(42)、第二横螺杆(43),及分别与第一横螺杆(42)、第二横螺杆(43)连接的第一横U形板(44)、第二横U形板(45),及分别设置在第一横U形板(44)、第二横U形板(45)内的第一横U形板通孔(46)、第二横U形板通孔(47),其中,第一中空声波导管(39)、第二中空声波导管(38)的一端分别贯穿第一横U形板通孔(46)、第二横U形板通孔(47)。

4.根据权利要求3所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,其特征在于:所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,还包括分别设置在第一横U形板通孔(46)、第二横U形板通孔(47)内且与第一中空声波导管(39)、第二中空声波导管(38)相配合使用的第一辅助垫套(48)、第二辅助垫套(49)。

5.根据权利要求4所述的高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,其特征在于:所述高硅轻质化过共晶铝硅合金制备的超声波杂质检测装置,还包括分别与第一中空声波导管(39)、第二中空声波导管(38)相配合使用的声波发生器(50)、声波接收器(51)。