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专利号: 2021100278587
申请人: 广西师范大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 基本电气元件
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种调控无铅双钙钛矿基阻变存储器实现多态存储的方法,其特征在于,包括如下步骤:

1)制备Cs2AgBiBr6样品:将BiBr3、AgBr和CsBr以1:1:2的摩尔比溶于有机溶剂DMSO中,在恒温手套箱中加热到60 70℃,搅拌10小时以上,得到清亮的黄色目标溶液,然后通过溶~胶‑凝胶法制备目标样品:先将铟锡氧化物导电玻璃衬底,即ITO/glass作为基底固定在匀胶机上,然后以400rpm以上的转速,将目标溶液在ITO/glass基底上旋涂10 s以上,再以

4000 rpm以上的转速条件旋涂30s以上,最后在200 300℃电热板上退火5 10分钟,得到黄~ ~色的Cs2AgBiBr6薄膜;

2)制备Cs2AgBiBr6基阻变存储器件:将步骤1)得到的Cs2AgBiBr6薄膜表面用N2气枪清理干净后置于磁控溅射腔内,通过磁控溅射方式,在Cs2AgBiBr6薄膜表面溅射得到Pt电极,Pt电极的厚度在150nm以上,进而得到Pt/Cs2AgBiBr6/ITO/glass器件;

3)光照调控Pt/Cs2AgBiBr6/ITO/glass器件阻变特性:将Pt/Cs2AgBiBr6/ITO/glass器件置于445 nm激光光照中,以上下加电压的方式对器件进行扫描电压下的电性测试,扫描方式为0→VSET→VRESET‑1/VRESET‑2→0,其中VSET为置位电压,VRESET‑1、VRESET‑2为复位电压,随后,将光照下所测试得的最大高、低阻态比对应的电压定为读取电压Vr,以VSET→Vr→0→VRESET‑1→Vr→0→VRESET‑2→0的循环测试模式进行阻态稳定性的测试。

2.根据权利要求1所述的调控无铅双钙钛矿基阻变存储器实现多态存储的方法,其特征在于,所述步骤1)中搅拌10 15小时,以400 600rpm的转速,在ITO/glass基底上旋涂10~ ~ ~

20s,再以4000 6000 rpm的转速条件旋涂30 50s。

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