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专利号: 2021102914712
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于曲轴综合测量的测头装置,由导向机构,板型测量接触机构、位移检测单元及壳体组成,其特征在于:所述壳体一端内固定平行设置有两个位于同一水平面的微位移传感器,所述微位移传感器包括第一位移传感器(15)和第二位移传感器(16),两个微位移传感器前端分别顶住一对支撑杆(10),所述支撑杆上架设有两组平行片状的膜片组件,两组膜片组件固定于壳体上;

所述膜片组件由片状的膜片座(12)、圆形的膜片(11)、压盖(9)和垫片(8)组成,膜片(11)有水平并列设置的两组,分别通过垫片(8)和压盖(9)固定设置于膜片座(12)上,中间开孔的压盖(9)压设于膜片的外侧,所述膜片(11)是具有多个同心弧形槽的圆形弹性金属薄片,其中心位置设置有中心孔(21),支撑杆(10)固定穿设于中心孔(21)内;

远离微位移传感器一侧的支撑杆(10)的端部连接有板型测量接触机构,所述板型测量接触机构包括测板(2)和其端部横向设置的测杆(1),所述两个微位移传感器一个指向测杆的起点,另一个指向测杆的终点;

所述支撑杆(10)的一端通过后连接件(13)固定并与微位移传感器连接,另一端通过套筒(7)和前连接件(3)与板型测量接触机构连接;

所述膜片(11)上加工有不同宽度和层数的弧形槽(20),所述弧形槽(20)跨度角θ为

140°~150°、数量为3对或4对、弧形槽宽度1.2~2mm、膜片厚度小于0.2mm、弧形槽两端孔径为2~3mm。

2.根据权利要求1所述用于曲轴综合测量的测头装置的测量方法,其特征在于:测杆(1)与被测件接触点在任意位置时测量的实际输出量Z由下面公式计算:X为测杆上施加载荷位置;W为测杆长度;A是第一位移传感器(15)的读数,B是第二位移传感器(16)的读数。