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专利号: 2021103146791
申请人: 浙江工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 一般的物理或化学的方法或装置
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种通过掩盖膜表面缺陷的高选择性反渗透膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)水相溶液的配制:在超纯水中加入胺单体和带有亲水性基团的有机弱酸,并加入有机碱,搅拌分散均匀得到水相溶液;其中配制的水相溶液中,胺单体的添加浓度为3.0wt%;

2)油相溶液的配制:在Isopar‑G溶剂中溶解酰氯单体,超声混合均匀得到油相溶液;其中配制的油相溶液中,酰氯单体的浓度为0.2wt%;

3)界面聚合制备复合膜:将步骤1)配制的水相溶液倒在聚砜超滤膜PSF表面浸润1 3 ~min后,采用氮气气刀对聚砜超滤膜PSF表面进行除水干燥,待聚砜膜表面没有明显的液滴时,再将聚砜超滤膜PSF置于通风橱中自然通风干燥1 3 min;随后将步骤2)配制的油相溶~液在刚刚浸润过水相溶液的聚砜超滤膜PSF表面,持续时间20   60 s完成界面聚合反应~后,倒掉聚砜超滤膜PSF表面多余的油相溶液,将聚砜超滤膜PSF垂直静置沥干后,于烘箱中干燥,即得到高选择性反渗透膜产品;

步骤1)中胺单体为间苯二胺;所述有机弱酸为樟脑磺酸,樟脑磺酸在水相溶液中的浓度为3.8   4.2wt%;添加的有机碱为三乙胺,三乙胺在水相溶液中的添加浓度为2.5   ~ ~

3.0wt%。

2.如权利要求1所述的一种通过掩盖膜表面缺陷的高选择性反渗透膜的制备方法,其特征在于,樟脑磺酸在水相溶液中的浓度为4.0wt%。

3.如权利要求1所述的一种通过掩盖膜表面缺陷的高选择性反渗透膜的制备方法,其特征在于,步骤2)中酰氯单体为均苯三甲酰氯。

4.如权利要求1所述的一种通过掩盖膜表面缺陷的高选择性反渗透膜的制备方法,其特征在于步骤3)中,水相溶液倒在聚砜超滤膜PSF表面浸润的时间为2.0 min,通风橱中自然通风干燥的时间为2.0 min。

5.如权利要求1所述的一种通过掩盖膜表面缺陷的高选择性反渗透膜的制备方法,其特征在于步骤3)中,界面聚合反应的时间为30 s;倒掉聚砜超滤膜PSF表面多余的油相溶液后,将聚砜超滤膜PSF垂直静置沥干的时间为20   30 s。

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6.如权利要求1所述的一种通过掩盖膜表面缺陷的高选择性反渗透膜的制备方法,其特征在于步骤3)中,烘箱中干燥的温度为90   95 ℃,干燥时间为6   10 min。

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