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专利号: 202110432263X
申请人: 西安工业大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.多探测光幕阵列时空约束多弹丸参数匹配方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:采用多探测光幕阵列测试系统进行多弹丸飞行参数测试,并构建任意一发弹丸飞行参数计算模型;

步骤S2:采集弹丸穿过探测光幕的原始信号,计算多探测光幕阵列中平行探测光幕输出信号的相关系数矩阵,寻找出同一发弹丸的波形信号;

步骤S3:建立多探测光幕阵列的平面几何方程,确定同一发弹丸穿过多个探测光幕的时刻值;

步骤S4:基于多弹丸在多探测光幕阵列中匀速直线运动,并结合同一发弹丸穿过多个探测光幕的点轨迹,构建同一发弹丸的直线约束函数;

步骤S5:基于弹丸穿过探测光幕的空间位置和时刻值,匹配并计算出多弹丸穿过每一个探测光幕的参数。

2.如权利要求1所述的多探测光幕阵列时空约束多弹丸参数匹配方法,其特征在于,所述步骤S1构建弹丸飞行参数计算模型的步骤如下:步骤S11:搭建探测光幕M1至M6,探测光幕M1和M4相互平行且垂直于oz轴,探测光幕M1和M4之间的距离为S,探测光幕M2和M5垂直于xoz平面且分别与探测光幕M1和M4之间存在夹角α;

探测光幕M3和M6垂直于yoz平面且分别与探测光幕M1和M4之间存在夹角β;

步骤S12:获得多探测光幕阵列的空间几何参数;

步骤S13:根据同一弹丸穿过多探测光幕的时刻值,建立任意一发弹丸飞行参数计算模型。

3.如权利要求2所述的多探测光幕阵列时空约束多弹丸参数匹配方法,其特征在于,所述步骤S2寻找同一弹丸波形信号的步骤如下:步骤S21:由多路采集模块采集多弹丸穿过多探测光幕的信号,并提取弹丸穿过探测光幕的时刻值;

步骤S22:定义多弹丸穿过多探测光幕的时刻值;

步骤S23:计算多探测光幕阵列中三组平行探测光幕输出信号的相关系数矩阵,找到平行探测光幕中同一弹丸的波形信号,确定其时刻值。

4.如权利要求1所述的多探测光幕阵列时空约束多弹丸参数匹配方法,其特征在于,所述步骤S3确定同一发弹丸穿过多个探测光幕的时刻值的步骤为:步骤S31:构建多探测光幕弹丸时空关联约束函数式;

步骤S32:基于三组平行探测光幕所对应的每一组弹丸时刻序列,采用计算机循环匹配计算方法,匹配出第一发弹丸穿过探测光幕的时刻值;

步骤S33:同理寻找并匹配出其他弹丸穿过每一个探测光幕的时刻值。

5.如权利要求1所述的多探测光幕阵列时空约束多弹丸参数匹配方法,其特征在于,所述步骤S4构建同一发弹丸的直线约束函数的步骤为:步骤S41:设定任意一发弹丸在探测光幕的空间位置;

步骤S42:根据同一弹丸穿过探测光幕阵列的匀速直线运动规则,构建同一发弹丸的直线约束函数。

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