1.一种微小位移检测传感器，其特征是，包括两片蒸镀有高反射多层介质膜的玻璃基片，其中一片玻璃基片用于与待测物体固定，另一片用于与参照物体固定，两片玻璃基片的高反射多层介质膜平行相对且中间具有空气层。

2.一种微小位移检测装置，其特征是，所述微小位移检测装置包括如权利要求1所述的一种微小位移检测传感器，还包括：连续光谱光源，设置于微小位移检测传感器的一侧，将具有连续光谱的光垂直入射微小位移检测传感器；

光谱仪，设置于微小位移检测传感器的另一侧，接收连续光谱光源入射微小位移检测传感器后的透射光；

计算机监视器，连接光谱仪并监测记录透射光的波长变化。

3.根据权利要求2所述的微小位移检测装置，其特征是，所述微小位移检测装置还包括平行光管，设置于连续光谱光源和微小位移检测传感器之间，用于准直所述连续光谱光源发出的光。

4.一种微小位移检测方法，其特征是，包括以下步骤：利用具有连续光谱的光源垂直入射权利要求1所述的微小位移检测传感器，并监测记录透射光的波长变化；

根据透射光的波长变化计算待测物体发生的位移值。

5.根据权利要求4所述的微小位移检测方法，其特征是，所述待测物体发生的位移值计算表达式为：

其中，Δh为空气层厚度变化，即待测物体发生的位移值；λ0为高反射多层介质膜的反射中心波长；Δm为干涉级次变化。

6.根据权利要求5所述的微小位移检测方法，其特征是，所述干涉级次变化Δm的计算方法如下：

测量待测物体位移始末状态λ0左右两侧的透射中心波长，并根据透射中心波长计算出位移始末状态对应的干涉级次m，将位移始末状态对应的干涉级次m相减求得干涉级次变化Δm。

7.根据权利要求6所述的微小位移检测方法，其特征是，所述干涉级次m的计算表达式为：

其中，λn+1为λ0的左侧的透射中心波长，λn为λ0的右侧的透射中心波长。