1.一种数字集成电路测试系统，其结构包括显示屏(1)、操作面板(2)、测试仪主体(3)、锁扣(4)、机架(5)、电源盒(6)，所述显示屏(1)嵌固安装在测试仪主体(3)的左端后侧上部，所述测试仪主体(3)的左端前侧上部设有操作面板(2)，所述测试仪主体(3)的左侧下部设有锁扣(4)，所述测试仪主体(3)的底部焊接于机架(5)顶部，所述电源盒(6)安装在机架(5)底部，其特征在于：

所述测试仪主体(3)包括外壳(31)、转换装置(32)、压紧装置(33)、工作平台(34)、信号发射器(35)、数据处理器(36)，所述转换装置(32)的右端安装在外壳(31)内侧的右端下部，所述外壳(31)内侧的底部中心设有压紧装置(33)，所述工作平台(34)的底部焊接在机架(5)的顶部，所述信号发射器(35)的右端安装在外壳(31)内侧的右端中部，所述外壳(31)内侧的右端上部嵌固连接有数据处理器(36)。

2.根据权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于：所述转换装置(32)包括气缸(321)、接触装置(322)、转换片(323)、转动轴(324)、支撑杆(325)、弹簧(326)，所述气缸(321)的右端与外壳(31)内侧的右端下部嵌固连接，所述转换片(323)的中部与支撑杆(325)的顶部铰接连接，所述弹簧(326)的右端与转换片(323)的左端底部相连接，并且弹簧(326)的左端安装在支撑杆(325)的右端底部，所述转换片(323)的顶部设有接触装置(322)，所述接触装置(322)设在气缸(321)的底部。

3.根据权利要求2所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于：所述接触装置(322)包括旋转轴(22a)、感应片(22b)、凹槽(22c)、接触头(22d)，所述旋转轴(22a)安装在凹槽(22c)内部的左侧中部，所述感应片(22b)的中部铰接于旋转轴(22a)，所述接触头(22d)设在转换片(323)的顶部。

4.根据权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于：所述压紧装置(33)包括压紧柱(331)、压簧(332)、绝缘外罩(333)、压紧板(334)、转动槽(335)、旋转柱(336)、把手(337)，所述压紧柱(331)在外壳(31)底部中心右端的内部滑动连接，所述压簧(332)的底端与压紧柱(331)的顶部相连接，并且压簧(332)的顶端安装在压紧板(334)右侧的底部，所述压紧板(334)在绝缘外罩(333)内部的顶侧两端滑动连接，所述旋转柱(336)的顶部在转动槽(335)的内部活动卡合，所述旋转柱(336)的中下部与外壳(31)的底部中心左端螺纹连接，所述把手(337)嵌固安装在旋转柱(336)的底部。

5.根据权利要求1所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于：所述工作平台(34)包括底板(341)、测试板(342)、待测组件(343)、感应块(344)、紧固装置(345)，所述底板(341)焊接在机架(5)的顶侧两端，所述测试板(342)嵌固安装在底板(341)的顶部，所述待测组件(343)安装在测试板(342)的顶部，所述待测组件(343)的顶部安装有感应块(344)，所述测试板(342)的顶部中心设有紧固装置(345)。

6.根据权利要求5所述的一种数字集成电路测试系统，其特征在于：所述紧固装置(345)包括导线插头(45a)、插线槽(45b)、紧固块(45c)、底台(45d)、推杆(45e)、联动杆(45f)、插线柱(45g)，所述底台(45d)安装在插线槽(45b)的内部底侧两端，所述紧固块(45c)的左端底部与底台(45d)的右端铰接连接，所述导线插头(45a)的下部在紧固块(45c)的内部滑动连接，所述推杆(45e)的中部铰接于插线槽(45b)顶部两端的中部，所述推杆(45e)的底部与联动杆(45f)的左端铰接连接，所述联动杆(45f)的中部在插线槽(45b)内部的两侧滑动连接，所述插线槽(45b)的底部中心设有插线柱(45g)，所述插线柱(45g)与导线插头(45a)的底端间隙配合。