1.一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统，其特征在于，包括激光器(1)、分光镜(9)、透镜(8)、透镜组(7)和光谱仪(10)；

所述激光器(1)用于发射激光；

所述分光镜(9)用于将激光器(1)发射的激光分为两束激光；其中一束激光用于作为泵浦光照射到样品(5)表面诱导损伤；另一束激光经透镜(8)汇聚激发电离空气，产生两束具有相同脉宽和光谱范围的瞬态白光；

设置两个透镜组(7)用于收集瞬态白光，经透镜组(7)处理的其中一束瞬态白光作为参考光，经光纤I收集于光谱仪(10)；另一束瞬态白光作为探针光，经光纤II传递至样品处，与泵浦光一同聚集于样品(5)上的相同位置；

所述光谱仪(10)还用于通过光纤III收集探针光。

2.根据权利要求1所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统，其特征在于，还包括劈板(3)和能量卡计(6)，所述劈板(3)用于将泵浦光分为两束，一束用于能量卡计(6)实时监测激光器(1)输出的能量，另一束用于诱导样品(5)产生损伤。

3.根据权利要求1所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统，其特征在于，还包括透镜I(4)，所述透镜I(4)用于将泵浦光聚焦在样品(5)上。

4.根据权利要求1所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统，其特征在于，在沿泵浦光的传输路线上还设有若干反光镜(2)，若干反光镜(2)依次布置作为泵浦光延时路线。

5.根据权利要求1所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试系统，其特征在于，所述透镜组(7)由两个焦距相同的透镜构成。

6.一种用于光学元件的瞬态吸收测试方法，其特征在于，包括以下步骤：启动激光器，由激光器发出的激光经分光镜分为两束激光；其中一束激光作为泵浦光照射到样品表面诱导损伤；另一束激光经透镜汇聚激发电离空气，产生两束具有相同脉宽和光谱范围的瞬态白光；

设置两个透镜组收集瞬态白光，经透镜组处理的其中一束瞬态白光作为参考光，经光纤I收集于光谱仪；另一束瞬态白光作为探针光，经光纤II传递至样品处，与泵浦光一同聚集于样品上的相同位置；

光谱仪通过光纤III收集探针光，获取样品的吸收率。

7.根据权利要求6所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试方法，其特征在于，样品的吸收率的绝对值通过如下公式进行计算：其中，refn是泵浦光没有作用时瞬态白光通过样品的光谱，samplen指代主激光作用瞬间通过样品的探针光的光谱，darkn指代泵浦光和探针光均未经过样品时暗室的背景光，scan指代主激光作用瞬间样品对主激光的散射光。

8.根据权利要求6所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试方法，其特征在于，所述激光器采用纳秒脉冲激光器，纳秒脉冲激光器的参数设计为：主激光脉宽为6.8ns，泵浦光为

355nm。

9.根据权利要求6所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试方法，其特征在于，主激光作用在样品前表面光斑的半径为2mm。

10.根据权利要求6所述的一种用于光学元件的瞬态吸收测试方法，其特征在于，所述光谱仪的积分时间为1000ms。