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专利号: 2021109264946
申请人: 中国地质大学(武汉)
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种线圈式矢量磁力仪地磁日变误差校正方法,其特征在于:包括以下步骤:S1:架设线圈式磁力仪和三分量磁力仪,然后记录对线圈式磁力仪施加大小相等方向相反的偏置场后的叠加场,记为F1+和F2‑,以及不加偏置场时的地磁总场,记为F3;

S2:结合三分量磁力仪检测的地磁场分量信息,利用向量变换关系将所有时刻得到的叠加场都校准至测量F3的时刻,记为F3+′和F3‑′;

若F1+为第一个时刻测量得到的叠加场,F2‑为第二个时刻测量得到的叠加场,F3为第三个时刻测量得到的叠加场,具体的校准过程如下:记向量F1+校正后为F3+′,得F3+′的计算如式(5):F3+′=A++F3    (5)代入F3与F1的关系式F3=F1+ΔF13后,式(5)变换为式(6):F3+′=F1++ΔF13    (6)将式(6)中等号两边开方可得式(7)

2 2 0.5

F3+′=(F1++2F1+ΔF13+ΔF13)     (7)其中,F1+=A++F3‑ΔF13,将F1+代入式(7),化简后可得式(8)

2 2 0.5

F3+′=[F1++2ΔF13(F3+A+)‑|ΔF13|]     (8)同理可得F3‑′的计算如式(9)

2 2 0.5

F3‑′=[F2‑+2ΔF23(F3+A‑)‑ΔF23|] (9)其中,F3+′和F3‑′分别为F1+和F2‑校准至F3测量时刻对应的叠加场;

S3:根据校正后的叠加场F3+′和F3‑′,进而得到日变校正之后的地磁参量信息;

利用日变校正之后的叠加场进行地磁参量解算,日变校正后的磁倾角ΔI′及磁偏角ΔD′的计算公式如下:ΔI′=θ′(11)

其中,F3为第三个时刻测量得到的地磁总场。