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专利号: 202110948553X
申请人: 深圳市菁菁教育网络技术有限公司
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-11-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,包括:底板(1),其顶部两侧均设有支架(2);

放料斗(3),两个支架(2)之间连接有能够对刻度尺进行放置的放料斗(3);

移动机构(4),底板(1)顶部设有能够带动刻度尺进行移动的移动机构(4);

下料机构(5),放料斗(3)下端设有能够对刻度尺进行下料的下料机构(5),移动机构(4)与下料机构(5)配合;

刮拭机构(6),移动机构(4)顶部一侧设有刮拭机构(6)。

2.如权利要求1所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,移动机构(4)包括:

电动滑轨(40),底板(1)顶部安装有电动滑轨(40);

滑块(41),电动滑轨(40)两侧均滑动式设有滑块(41);

放置框(42),两个滑块(41)之间连接有对刻度尺进行放置的放置框(42)。

3.如权利要求2所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,下料机构(5)包括:

滑杆(51),放料斗(3)两侧下部均滑动式设有滑杆(51);

第一复位弹簧(52),滑杆(51)与放料斗(3)之间连接有两个第一复位弹簧(52);

挡板(50),滑杆(51)之间连接有两个挡板(50),挡板(50)与放料斗(3)滑动配合;

限位块(53),放置框(42)一侧中间连接有限位块(53);

卡块(54),限位块(53)内滑动式设有卡块(54);

第二复位弹簧(55),卡块(54)与限位块(53)之间连接有两个第二复位弹簧(55)。

4.如权利要求3所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,刮拭机构(6)包括:

斜块(60),放置框(42)两侧均设有两个斜块(60),斜块(60)左右对应;

支撑杆(61),电动滑轨(40)顶部一侧设有支撑杆(61),支撑杆(61)位于挡板(50)其中一侧;

刮块(62),支撑杆(61)两侧均滑动式设有刮块(62);

第一回力弹簧(63),刮块(62)与支撑杆(61)之间连接有四个第一回力弹簧(63)。

5.如权利要求4所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,还包括有挤压机构(8),挤压机构(8)包括:

第一齿条(80),一侧的滑块(41)底部设有第一齿条(80);

支撑块(81),底板(1)顶部另一侧设有支撑块(81);

限位框(82),支撑块(81)一侧连接有限位框(82);

螺纹杆(83),限位框(82)底部两侧均转动式设有螺纹杆(83),两个螺纹杆(83)相连接;

挤压块(85),螺纹杆(83)上通过螺纹的方式设有挤压块(85),挤压块(85)与限位框(82)滑动配合;

第一直齿轮(84),一侧的螺纹杆(83)的其中一侧连接有第一直齿轮(84),第一直齿轮(84)与第一齿条(80)相配合。

6.如权利要求5所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,还包括有放料机构(7),放料机构(7)包括:

限位杆(71),放置框(42)两侧均设有限位杆(71);

支撑板(70),限位杆(71)内滑动式设有支撑板(70),支撑板(70)与放置框(42)滑动配合;

第二回力弹簧(72),支撑板(70)与限位杆(71)之间连接有两个第二回力弹簧(72)。

7.如权利要求6所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,还包括有收集机构(9),收集机构(9)包括:

第二直齿轮(92),两个螺纹杆(83)之间设有第二直齿轮(92);

转轴(91),限位框(82)底部转动式设有转轴(91);

第二直齿轮(92),转轴(91)上设有三个第二直齿轮(92),转轴(91)中间的第二直齿轮(92)与螺纹杆(83)上的第二直齿轮(92)相啮合;

推板(95),限位框(82)底部滑动式设有推板(95),推板(95)位于第二直齿轮(92)一侧;

第二齿条(93),推板(95)两侧均设有第二齿条(93),两个第二齿条(93)与两侧的第二直齿轮(92)相啮合;

第三回力弹簧(94),推板(95)与限位框(82)之间连接有两个第三回力弹簧(94);

收集框(96),底板(1)底部一侧放置有能够对刻度尺进行收集的收集框(96),收集框(96)位于支撑块(81)内。

8.如权利要求1所述的一种可测试刻度尺质量的检测装置,其特征是,底板(1)顶部设有防滑垫。