1.半导体自动化测试机台，包括测试主板（1）以及设置在测试主板（1）一侧中部的控制件（2），测试主板（1）的上端设置有若干测试核心件（3），测试核心件（3）的中部设置有供半导体插入的插槽，其特征在于，每个测试核心件（3）的上端设置有保护部件（4）;保护部件（4）包括保护壳（41）以及设置在保护壳（41）内侧的灭火组件（42），保护壳（41）的内侧还设置有压力推动组件（43），压力推动组件（43）贯穿灭火组件（42），且上端贯穿螺纹设置在保护壳（41）上端的封盖（44），封盖（44）的中部固定设置有报警件（45），保护壳41的外侧设置有清理组件（46）；

保护壳（41）的内侧下端开设有螺纹槽（411），螺纹槽（411）与测试核心件（3）的外侧螺纹连接，便于拆装，保护壳（41）还贯穿开设有若干导气孔（412），用于适当的散热；

灭火组件（42）包括连接架（421）以及设置在连接架（421）内侧的衔接架（422），相邻的衔接架（422）之间留有空隙，衔接架（422）的另一端与中心管（423）固定连接，衔接架（422）的上端放置有储料袋（424），储料袋（424）为一种橡胶材料制成的构件，且储料袋（424）的中部填充有干粉（425）；

压力推动组件（43）包括安装盘（431）以及设置在安装盘（431）两端刺穿部件（432），安装盘（431）的一侧设置有贯穿管（433），贯穿管（433）的另一端设置有推动盘（434）；刺穿部件（432）包括延伸杆（4321）以及设置在延伸杆（4321）上端的延伸柱（4322），延伸柱（4322）的上端设置有刺针（4323），延伸柱（4322）的直径大于刺针（4323）的直径；

推动盘（434）的上端中部设置有启动按钮（435），报警件（45）则包括蜂鸣报警器（451）以及设置在蜂鸣报警器（451）下端中部的启动件（452），启动按钮（435）与启动件（452）相对应。

2.如权利要求1所述的半导体自动化测试机台，其特征在于，推动盘（434）的上端还设置有卡紧组件（436），卡紧组件（436）位于启动按钮（435）的两侧各设置有一个。

3.如权利要求2所述的半导体自动化测试机台，其特征在于，卡紧组件（436）包括贯穿杆（4361）以及设置在贯穿杆（4361）上端一侧的卡块（4362），贯穿杆（4361）为刚性薄板，卡块（4362）侧视呈三角形，且与蜂鸣报警器（451）两侧卡死的卡槽（4511）相对应。

4.如权利要求3所述的半导体自动化测试机台，其特征在于，卡块（4362）的下端设置有安装环（4363），安装环（4363）的内侧活动设置有滚动管（4364），滚动管（4364）的直径大于安装环（4363）的直径。

5.如权利要求4所述的半导体自动化测试机台，其特征在于，清理组件（46）包括放置盒（461）以及设置在放置盒（461）内侧的清理件（462），放置盒（461）为一种铁质材料制成的构件，清理件（462）包括提手（4621）以及设置在提手（4621）下端的延伸片（4622），提手（4621）为一种磁铁材料制成的构件，延伸片（4622）的下端设置有梳毛（4623），提手4621的一侧设置有第一推动块（4624），第一推动块（4624）的一侧设置有第一连接杆（4625），第一连接杆（4625）的另一端设置有撬针（4626），提手4621的一侧还设置有第二推动块（4627），第二推动块（4627）的一侧设置有第二连接杆（4628），第二连接杆（4628）的另一端设置有撬片（4629）。