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专利号: 2021110670495
申请人: 长春理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-28
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量系统,其特征在于,包括:多层环境模拟系统(1)、穆勒矩阵测试起偏系统(2)、穆勒矩阵测试接收系统(3)、环境干扰抑制起偏系统(4)和环境干扰抑制接收系统(5);

所述多层环境模拟系统(1)呈上下两层,下层为大气颗粒物模拟系统(11),上层为水雾环境模拟系统(12),大气颗粒物模拟系统(11)和水雾环境模拟系统(12)的外部形状为长方体箱体结构,大气颗粒物模拟系统(11)和水雾环境模拟系统(12)长度相同,并以长度对齐布置;水雾环境模拟系统(12)的长度和高度相同,于垂直方向大气颗粒物模拟系统(11)和水雾环境模拟系统(12)上均开有垂直光学窗口,且大气颗粒物模拟系统(11)和水雾环境模拟系统(12)的垂直光学窗口中心轴重合,于水平方向水雾环境模拟系统(12)上开设有水平光学窗口;

所述穆勒矩阵测试起偏系统(2)位于多层环境模拟系统(1)的垂直路径光入射侧,穆勒矩阵测试起偏系统(2)由沿着光的传播方向依次布置的第一激光器(21)、第一衰减片(22)、扩束器(23)、第一线偏振片(24)和第一四分之一波片(25)组成,穆勒矩阵测试起偏系统(2)用于产生扩束后的水平、垂直、+45度、‑45度的线偏振光,以及左旋和右旋圆偏振光;

所述穆勒矩阵测试接收系统(3)位于多层环境模拟系统(1)的垂直路径光出射侧,穆勒矩阵测试接收系统(3)由沿着光的传播方向依次布置的第二四分之一波片(31)、第二线偏振片(32)和CCD探测器(33)组成,穆勒矩阵测试接收系统(3)用于接收水平、垂直、+45度、‑

45度的线偏振检偏方向,以及左旋和右旋圆偏振检偏方向所接收到的光强图样;

所述环境干扰抑制起偏系统(4)位于多层环境模拟系统(1)的水平路径光入射侧,环境干扰抑制起偏系统(4)由沿着光的传播方向依次布置的第二激光器(41)、第二衰减片(42)、第三线偏振片(43)和第三四分之一波片(44)组成,环境干扰抑制起偏系统(4)用于产生水平、垂直、+45度、‑45度的线偏振光,以及左旋和右旋圆偏振光,作为干扰环境测试的起偏;

所述环境干扰抑制接收系统(5)位于多层环境模拟系统(1)的水平路径光出射侧,环境干扰抑制接收系统(5)包括偏振态测量仪(51),用于测试干扰环境的各Stokes分量。

2.根据权利要求1所述的环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量系统,其特征在于:所述多层环境模拟系统(1)的垂直光学窗口和水平光学窗口中心轴不交叉。

3.根据权利要求1所述的环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量系统,其特征在于:所述第一激光器(21)选用532nm激光器。

4.根据权利要求1所述的环境干扰抑制的大气颗粒物穆勒矩阵测量系统,其特征在于:所述第二激光器(41)选用532nm激光器。