1.一种集成电路的成品测试方法，其特征在于，包括：预先获取集成电路的仿真电路，并确定仿真电路在运行时的运行参数和仿真引脚参数；

将集成电路的成品测试板与调试设备连接，并设定所述调试设备采用所述运行参数进行电路测试，获取测试引脚参数；

获取所述成品测试板上元器件信息，计算所述成品测试板的电性参数，并基于所述电性参数确定运行误差；

根据将所述运行误差带入所述仿真引脚参数后，与所述测试引脚参数进行匹配运算，确定集成电路的合格率；

其中，所述获取所述成品测试板上元器件信息，计算所述成品测试板的电性参数，包括：根据所述元器件信息，构建基于GIS网格的电性参数统计网络；其中，所述元器件信息在所述GIS网格上均存在唯一标识；

将所述成品测试板上元器件的依次通过红外探头进行接触；

收集所述红外探头的在不同电压下的红外信息；

根据所述红外信息建立所述成品测试板上不同元器件的曲线模型；

根据所述曲线模型，确定所述成品测试板上不同元器件的波动信息；

根据所述波动信息，计算波动强度，并将所述波动强度作为电性参数；

其中，所述基于所述电性参数确定运行误差，包括：获取所述电性参数，计算所述电性参数下成品测试板的信噪比，在确定所述信噪比小于预设信噪比时，对所述电性参数下的成品测试板进行降噪处理，根据所述降噪处理后的电性参数控制所述成品测试板进行相应的显示；

所述计算所述电性参数下的成品测试板，包括：计算所述电性参数下的成品测试板的幅度A：

其中，E

根据所述电性参数下的成品测试板的幅度A，计算所述电性参数下的成品测试板的运行误差T：其中，ε为各个信号节点中噪声的方差；t为电性参数下的成品测试板的传输时长；χ其中，所述根据将所述运行误差带入所述仿真引脚参数后，与所述测试引脚参数进行匹配运算，确定集成电路的合格率，包括：获取所述仿真引脚参数，并根据所述运行误差，对所述仿真引脚参数进行调节，确定调节系数；

根据所述调节系数，确定所述仿真引脚参数调节后的调节参数；

将所述调节参数通过马氏距离和相关算法进行计算，获取距离值和相关值；

依次获取所述成品测试板上每个元器件的距离值和相关值，并计算距离值的方差和相关值方差的比值，确定百分比；

将所述百分比作为合格率；

其中，所述确定集成电路的合格率，还包括：

根据如下公式计算距离值和相关值中的数据可信值：其中，η表示所述距离值和相关值的可信值，且取值范围为[0,1]；δ表示可信因子；α表示所述距离值；γ表示距离值对应的元器件的标准参数；μ表示所述相关值；ω表示所述相关值对应的元器件的标准参数；β表示所述距离值和相关值的权重系数；ρ表示所述距离值和相关值的特征参数；θ表示所述距离值和相关值的平均值；σ表示所述距离值和相关值的期望和；

根据如下公式计算对确定数据可信值的准确率：其中，

将所述数据可信值的准确率带入每个元器件的测试引脚参数，确定每个引脚合格率；

根据每个引脚的合格率，确定集成电路的合格率。

2.如权利要求1所述的一种集成电路的成品测试方法，其特征在于，所述预先获取集成电路的仿真电路，并确定仿真电路在运行时的运行参数和仿真引脚参数，包括：获取所述仿真电路的电路原理图，确定所述仿真电路的运行原理；

根据所述运行原理，确定所述仿真电路的额定电压和额定电流；

根据所述电路原理图，在预设的电路仿真软件上进行电路仿真，生成仿真电路程序；

在所述电路仿真软件上对所述仿真电路程序的电压调节为所述额定电压和额定电流，并确定所述仿真电路程序在运行时的电路运行曲线，确定运行数据；

根据所述运行数据，确定所述仿真电路上每个元器件对应的芯片和芯片引脚，确定所述仿真电路程序在运行时，芯片引脚对应的仿真引脚参数。

3.如权利要求1所述的一种集成电路的成品测试方法，其特征在于，所述预先获取集成电路的仿真电路，并确定仿真电路在运行时的运行参数和仿真引脚参数，还包括：设置模拟量开关，并将所述模拟量开关和集成电路连接后，对所述集成电路的进行模拟量调节，并获在调节为不同模拟量时，所述集成电路的运行参数和仿真参数；

在所述集成电路的集成电路板的输入端和输出端，均连接三相锁存器，进行数据锁定；

根据所述数据锁定，分别构建基于运行参数的运行参数模型和仿真引脚参数的引脚参数模型，根据所述运行参数模型和引脚参数模型，确定运行参数和仿真引脚参数。

4.如权利要求1所述的一种集成电路的成品测试方法，其特征在于，所述将集成电路的成品测试板与调试设备连接，并设定所述调试设备采用所述运行参数进行电路测试，获取测试引脚参数，包括：获取调试设备，并在所述调试设备上配调试接口；

将所述调试设备和成品测试板通过所述调试接口进行连接；

设定所述调试设备的输出参数为所述运行参数中成品测试板的输入参数；

依次获取所述成品测试板上每个芯片引脚的实时参数；

对所述实时参数按照时间顺序进行统计，确定第一引脚数据；

设定成品测试板中元器件的实时参数为所述运行参数，并依次确定所述成品测试板上每个芯片引脚的动态参数；

对所述动态参数进行统计，确定第二引脚数据；

将所述第一引脚数据作为启动引脚数据，所述第二引脚数据作为运行引脚数据。

5.如权利要求1所述的一种集成电路的成品测试方法，其特征在于，所述将集成电路的成品测试板与调试设备连接，并设定所述调试设备采用所述运行参数进行电路测试，获取测试引脚参数，还包括：预先通过所述调试设备向所述集成电路发出脉冲信号；

根据所述脉冲信号依次获取所述成品测试板上每个元器件和芯片引脚的反馈信号；

根据所述反馈信号，判断每个元器件和芯片引脚的连接状态；其中，所述连接状态包括接通和断路；

当所述连接状态为接通时，将对应的元器件和芯片引脚设置为有效节点，并授权所述调试设备的在所述有效节点的测试权限；

当所述连接状态为断路时，将所述成品测试板的短路信息进行统计，并直接记录为不合格集成电路。

6.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-5中任意一项所述的集成电路上电测试方法。