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专利号: 2021114635039
申请人: 桂林理工大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-11
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.水深测量激光雷达透过率杂光测试系统,其特征在于可以用于激光雷达光学系统杂散光、装调测试一体化;其特征还在于包括激光雷达透过率杂散光测试系统组成和工作流程;

所述的激光雷达透过率杂光测试系统包括支撑平台、脉冲激光器、光纤跳线、平行光管、指示器、平面反射镜、抛物面反射镜、高精度二维转台、激光能量计、计算机、丝杠滑轨、水平仪、CCD相机;

所述的激光雷达透过率杂光测试系统工作过程如下:①水平仪放置于支撑平台上与高精度二维转台上,观察保证支撑平台与高精度二维转台水平;

②开启指示器,指示器出射指示光经平面反射镜反射至抛物面反射镜,指示光经反射后入射至高精度二维转台上的待装调光学系统;

③调整光学系统物镜组;

④观察光斑中心是否位于轴心,没有位于轴心则返回调整光学系统物镜组;

⑤位于轴心后,安装目镜组,调节高精度 位转台;

⑥观察光斑是否位于中心,若没有位于中心返回安装目镜组,调节高精度二位转台;

⑦位于中心,光学系统装调完成;

⑧控制丝杠导轨移动切换至平行光管;

⑨开启脉冲激光器,脉冲激光器出射的激光经光纤跳线入射至平行光管,激光经平行光管准直后入射至平面反射镜反射至抛物面反射镜,经反射入射至待测激光雷达光学系统,经待测光学系统光线元件和机械结构的折射、反射、衍射和散射到达待测光学系统像面;

激光能量计位于待测光学系统入瞳处并记录;

激光能量计位于待测光学系统的焦面处并记录;

计算入瞳处与像面出辐照度,进行计算PST,操作转台转动角度θ;

观察能否接收到光学系统像面处能量,能够接受则返回激光能量计位于待测光学系统入瞳处并记录;

不能够接收到能量则绘制PST曲线;

完成激光雷达光学系统装调测试。