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专利号: 202120003567X
申请人: 无锡仪腾精密仪器有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-22
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种千分尺测杆校准装置,包括校准盒主体(1),其特征在于:所述校准盒主体(1)的上端外表面设置有盒盖(2),所述校准盒主体(1)的前端外表面设置有旋块(3),所述旋块(3)的下端外表面设置有卡条(4),所述卡条(4)的下端外表面设置有卡块(5),所述卡块(5)的后端外表面设置有收纳盒(6),所述收纳盒(6)的两侧外表面设置有滑轨(7),所述盒盖(2)的下端外表面设置有校准块(8),所述校准盒主体(1)的上端外表面设置有校准块(8)和千分尺本体(9)。

2.根据权利要求1所述的一种千分尺测杆校准装置,其特征在于:盒盖(2)与矩形槽(10)的连接处设置有合页,所述合页的数量为两组,且呈对称排布,所述旋块(3)与校准盒主体(1)之间为活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种千分尺测杆校准装置,其特征在于:所述卡条(4)与卡块(5)的连接处设置有卡槽(12),所述卡条(4)通过卡槽(12)与卡块(5)活动连接,所述卡块(5)与收纳盒(6)之间为固定连接,所述卡块(5)的形状呈矩形。

4.根据权利要求1所述的一种千分尺测杆校准装置,其特征在于:所述滑轨(7)与收纳盒(6)和校准盒主体(1)的连接处分别设置有固定件,所述固定件的数量为若干组,且呈阵列排布,所述卡条(4)与旋块(3)之间为固定连接,所述卡条(4)的形状呈矩形条状。

5.根据权利要求4所述的一种千分尺测杆校准装置,其特征在于:所述滑轨(7)通过固定件分别与校准盒主体(1)和收纳盒(6)固定连接,所述收纳盒(6)通过滑轨(7)与校准盒主体(1)之间为活动连接,所述滑轨(7)的数量为两组,且呈对称排布。

6.根据权利要求1所述的一种千分尺测杆校准装置,其特征在于:所述校准块(8)与校准盒主体(1)之间为活动连接,所述校准块(8)的数量为三组,所述每组校准块(8)的宽度不同,所述千分尺本体(9)与校准盒主体(1)的连接处设置有矩形槽(10)和半圆槽(11),所述千分尺本体(9)通过矩形槽(10)和半圆槽(11)与校准盒主体(1)活动连接。

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