1.一种基于深度信息的表面缺陷检测系统，用于检测物体表面的缺陷，其特征在于：所述基于深度信息的表面缺陷检测系统包括拍摄组件、光源组件、安装支架及分析组件，所述拍摄组件与所述安装支架连接，所述安装支架调整所述拍摄组件与待测物体之间的相对位置；所述光源组件提供不同角度的光照以供所述拍摄组件采集不同角度光照下的图像；所述分析组件与所述拍摄组件通信连接并对所述图像进行分析输出检测结果。

2.如权利要求1所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述基于深度信息的表面缺陷检测系统进一步包括用以放置待测物体的安装平台；通过调节所述安装支架与所述安装平台之间的位置以调整所述拍摄组件与待测物体之间的相对位置。

3.如权利要求1所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述光源组件发出的光源为红外光源。

4.如权利要求2所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述安装平台进一步设有放置待测物体的安装面，所述拍摄组件正对所述安装面，所述光源组件投射的光线与所述安装面之间的夹角为45°。

5.如权利要求2所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述光源组件进一步包括多组照明装置及安装支架，所述照明装置设置在所述安装支架上，所述安装支架均布于所述安装平台的四周。

6.如权利要求2所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述光源组件进一步包括一组照明装置及机械手，所述照明装置设置在所述机械手上，所述机械手控制所述照明装置与所述安装平台之间的相对位置。

7.如权利要求1所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述拍摄组件进一步包括相机及设置于所述相机上的镜头；所述相机为4D相机，所述镜头为定焦镜头。

8.如权利要求1所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述基于深度信息的表面缺陷检测系统进一步包括用以求解所述光源组件光照方向的标定物，所述标定物为球形。

9.如权利要求4所述的基于深度信息的表面缺陷检测系统，其特征在于：所述安装平台进一步设有网格定位线，所述网格定位线设置在所述安装面上。