1.一种计算机芯片高效测试治具，包括测试箱(1)，其特征在于：所述测试箱(1)的内部底端竖向活动设置有若干个移动板(2)，若干个所述移动板(2)相对侧的侧壁上均设置有测试片(3)，所述测试箱(1)的内部两侧前后两侧壁之间均固定设置有隔板(4)，两个所述隔板(4)的外侧壁上均横向设置有电动缸(5)，两个所述电动缸(5)的输出端均贯穿对应侧的隔板(4)的侧壁，且和对应侧的移动板(2)的侧壁固定连接，若干个所述移动板(2)的前后两侧中部之间活动设置有第一连接杆(6)，两个所述第一连接杆(6)的外部均套设有若干个第一复位弹簧(7)，若干个所述第一复位弹簧(7)分别位于两个移动板(2)之间；

若干个所述移动板(2)的下方中部之间活动设置有第二连接杆(10)，所述第二连接杆(10)的外部套设有若干个滑套(11)，若干个所述滑套(11)分别位于两个移动板(2)之间，所述滑套(11)的外部套设有若干个第二复位弹簧(12)，若干个所述第二复位弹簧(12)分别位于滑套(11)的两侧，若干个所述滑套(11)的上方均固定设置有支架(13)，若干个所述支架(13)的上方均固定设置有磁铁推片(14)，若干个所述磁铁推片(14)的上方均活动设置有电磁铁(15)，所述磁铁推片(14)和电磁铁(15)的磁性相同。

2.根据权利要求1所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：若干个所述移动板(2)的前后两端中部均固定设置有滑动轮(8)。

3.根据权利要求2所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：所述测试箱(1)的内部前后两侧壁上均横向开设有滑槽(9)，若干个所述滑动轮(8)均滑动设置在对应侧的滑槽(9)的内部。

4.根据权利要求1所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：若干个所述电磁铁(15)的上方均固定设置有防护垫(16)。

5.根据权利要求1所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：若干个所述电磁铁(15)的下方两侧均固定设置有限位杆(20)。

6.根据权利要求5所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：若干个所述限位杆(20)的下端均活动贯穿防护垫(16)且固定设置有限位块(21)。

7.根据权利要求1所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：所述测试箱(1)的上侧壁上开设有测试口(17)。

8.根据权利要求1所述的一种计算机芯片高效测试治具，其特征在于：所述测试箱(1)的上方一侧前端设置有控制器(18)，所述测试箱(1)的上方靠近控制器(18)的一侧设置有显示屏(19)。