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专利号: 2021215275430
申请人: 深圳市普方科技有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-01-31
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:包括基板、基板上的线路、与线路连接的传感器;所述传感器包括布局在基板上的相互垂直排布的X向传感器、Y向传感器、Z向传感器。

2.根据权利要求1所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:X向传感器、Y向传感器、Z向传感器的布局符合空间直角坐标系:X代表横轴,Y代表纵轴,Z代表竖轴。

3.根据权利要求2所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:X向传感器是向横轴方向感应磁场变化并产生振荡频率变化的传感器。

4.根据权利要求2所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:Y向传感器是向纵轴方向感应磁场变化并产生振荡频率变化的传感器。

5.根据权利要求2所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:Z向传感器是向竖轴方向感应磁场变化并产生振荡频率变化的传感器。

6.根据权利要求1所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:传感器上连接有用于接收传感器的振荡频率以及振荡频率实时变化的接收装置。

7.根据权利要求6所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:接收装置上连接有用于读取接收到的传感器的振荡频率以及振荡频率实时变化的读取装置。

8.根据权利要求7

所述的一种检测磁性金属件接近状态的装置,其特征在于:接收装置以及读取装置分别连接用于对传感器的振荡频率以及振荡频率实时变化进行判断并给予相应处理的辅助设备。