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专利号: 2021222428318
申请人: 无锡世百德微电子有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,包括两个固定架(1)、两组液压杆(10)和两个压力传感器(15),其特征在于:每组所述液压杆(10)的顶端均与固定架(1)的内顶壁固定连接,每组所述液压杆(10)的输出端均固定连接有支撑板(16),每个所述支撑板(16)的底面均固定连接有两个压缩弹簧(12),每组所述压缩弹簧(12)的底端均共同固定连接有第一夹紧板(8),每个所述压力传感器(15)的底面均与每个支撑板(16)的上表面固定连接,每个所述固定架(1)的内底壁均固定连接有两个伸缩杆(3),每组所述伸缩杆(3)的伸缩端均共同固定连接有第二夹紧板(11),每个所述支撑板(16)的上表面均开设有检测通孔(20),每个所述第一夹紧板(8)的上表面均固定连接有检测柱(14),每个所述检测柱(14)的顶端均贯穿检测通孔(20)并延伸至压力传感器(15)的检测端。

2.根据权利要求1所述的一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,其特征在于:所述固定架(1)的下方放置有底座(13),所述底座(13)的上表面开设有两组滑动槽(17),每组所述滑动槽(17)的内部均滑动连接有滑动块(18),每组所述滑动块(18)的上表面均与每个固定架(1)的底面固定连接,两个所述固定架(1)相互远离的一侧面均固定连接有握把(7)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,其特征在于:每组所述液压杆(10)的外表面均固定连接有加固块(9),每组所述加固块(9)的上表面均与每个固定架(1)的内顶壁固定连接。

4.根据权利要求1所述的一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,其特征在于:每组所述伸缩杆(3)的外表面均套设有缓冲弹簧(2),每组所述缓冲弹簧(2)的底端均与每个固定架(1)的内底壁固定连接,每组所述缓冲弹簧(2)的上表面均与第二夹紧板(11)的底面固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,其特征在于:每个所述第一夹紧板(8)的底面和每个第二夹紧板(11)的上表面均固定连接有缓冲垫板(6),每组所述缓冲垫板(6)的外表面均呈齿状。

6.根据权利要求2所述的一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,其特征在于:每组所述滑动槽(17)的内底壁均固定连接有两个橡胶垫(19),每组所述橡胶垫(19)相互远离的一侧面均与每组滑动槽(17)的内侧壁固定连接。

7.根据权利要求2所述的一种半导体材料疲劳测试用自动夹持设备,其特征在于:所述底座(13)的底面固定连接有两个安装板(4),每个所述安装板(4)的正面均开设有安装通孔(5)。