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专利号: 2022108918196
申请人: 中国地质大学(武汉)
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 一般的物理或化学的方法或装置
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种钾离子选择性薄膜的制备方法,其特征在于:包括如下步骤:S1:制备功能化氧化石墨烯薄膜

将氧化石墨烯粉末和二甲基二甲氧基硅烷液体加入去离子水中,加热搅拌至完全分散,停止搅拌并将溶液冷却至室温形成胶体溶液,并取一定量的胶体溶液滴加在多孔基底聚对苯二甲酸乙二醇酯膜上,自然风干得到功能化氧化石墨烯薄膜;

+

S2:制备负载K功能化氧化石墨烯薄膜

将干燥后的功能化氧化石墨烯薄膜放入0.1~0.5M的KCl溶液中,室温下吸附10~24h后取出,并用离子水冲洗功能化氧化石墨烯薄膜表面多余的离子溶液,随后用氮气吹干,制+备成负载K功能化氧化石墨烯薄膜,即钾离子选择性薄膜。

2.如权利要求1所述的一种钾离子选择性薄膜的制备方法,其特征在于:步骤S1中,采用以下质量比的原料:氧化石墨烯:二甲基二甲氧基硅烷:去离子水=7:250~350:2000。

3.如权利要求1所述的一种钾离子选择性薄膜的制备方法,其特征在于:步骤S1中,加热温度为100~110℃,转速为350~500r/min;磁力搅拌反应5~7h。

4.如权利要求1所述的一种钾离子选择性薄膜的制备方法,其特征在于:多孔基底聚对苯二甲酸乙二醇酯膜的孔径为30nm。

5.一种采用权利要求1‑4任一项所述的制备方法制备的钾离子选择性薄膜。