1.一种基于直方图和动态光源的薄膜表面缺陷评估方法，其特征在于，包括：S1：设置初始光源角度，获取初始光源角度下的薄膜灰度图像，对获得的薄膜灰度图像进行自适应分割得到分割后的各区域；

S2：获取每个区域的灰度直方图，利用灰度直方图中每一灰度级的灰度均值获得该区域灰度直方图的多阶矩；

S3：利用获取的区域灰度直方图的多阶矩得到该区域的质量评估值；

S4：将每个区域的质量评估值与评估阈值进行对比，判断该区域是否为缺陷区域；

S5：对初始光源角度进行调节，利用S2‑S3的方法获取判断为缺陷的区域在每次光源角度调节后的质量评估值；

S6：利用缺陷区域在不同光源角度下的质量评估值得到缺陷区域每个光源角度下的质量评估值在该缺陷区域所有光源角度下的质量评估值中的占比，根据缺陷区域每个光源角度下的质量评估值在该缺陷区域所有光源角度下的质量评估值中的占比、该缺陷区域的长度和宽度获取各缺陷区域的评估熵；

S7：根据所有缺陷区域的评估熵中的最大评估熵对薄膜表面缺陷程度进行评价；

S5中对初始光源角度进行调节的方法为：

根据设定的初始调节步长进行第一次光源角度调节；

获取缺陷区域第一次光源角度调节后的质量评估值；

计算第一次光源角度调节后的质量评估值与第一次光源角度调节前的质量评估值的差值绝对值，通过该差值绝对值与初始调节步长得到第二次光源调节步长，按照获取第二次光源调节步长的方法获取第二次光源调节之后的光源调节步长，完成对光源角度的调节；

S6中缺陷区域的评估熵的表达式为：

式中：表示缺陷区域的评估熵，表示第 个光源角度，ɸ表示光源角度调节的次数,表示缺陷区域在第 个光源角度下的质量评估值在该缺陷区域所有光源角度下的质量评估值中的占比， 表示当前薄膜图像的长， 表示当前薄膜图像的宽， 表示第 个缺陷区域的长度， 表示第 个缺陷区域的宽度；

S1中得到分割后的各区域的方法为：

在薄膜灰度图像行/列方向上，若平均分割列数/平均分割行数大于最大边缘列数/最大边缘行数时，对薄膜灰度图像进行行方向上/列方向上的平均分块；若平均分割列数/平均分割行数小于最大边缘列数/最大边缘行数时，对薄膜灰度图像进行行方向上/列方向上的自适应分块。

2.根据权利要求1所述的一种基于直方图和动态光源的薄膜表面缺陷评估方法，其特征在于，S3中区域的质量评估值的表达式为：式中： 表示区域的质量评估值， 表示二阶矩， 表示三阶矩， 表示四阶矩， 表示二阶矩的权重， 表示三阶矩的权重， 表示四阶矩的权重。

3.根据权利要求1所述的一种基于直方图和动态光源的薄膜表面缺陷评估方法，其特征在于，S4中将每个区域的质量评估值与评估阈值进行对比，判断该区域是否为缺陷区域的方法为：若区域的质量评估值大于或等于质量评估值阈值，判断该区域为非缺陷区域；

若区域的质量评估值小于质量评估值阈值，判断该区域为缺陷区域。

4.根据权利要求1所述的一种基于直方图和动态光源的薄膜表面缺陷评估方法，其特征在于，S7中根据所有缺陷区域的评估熵中的最大评估熵对薄膜表面缺陷程度进行评价的方法为：若所有缺陷区域的评估熵中的最大评估熵大于评估熵阈值，判断对应的薄膜为二等品；

若所有缺陷区域的评估熵中的最大评估熵小于或等于评估熵阈值，判断对应的薄膜为一等品。

5.根据权利要求1所述的一种基于直方图和动态光源的薄膜表面缺陷评估方法，其特征在于，S1中薄膜灰度图像的初始光源与水平方向的夹角为90度。