1.一种塑料薄膜缺陷分析处理方法，其特征在于，所述方法包括：

利用包含相机和光源的图像采集设备采集塑料薄膜的表面图像；获得所述表面图像的灰度直方图；根据所述灰度直方图进行灰度级量化，获得多个灰度级；所述灰度级与所述表面图像中的像素点存在对应关系；

将所述表面图像均分为多个子图像；根据所述子图像中每个像素点在预设邻域范围内的所述灰度级的分布获得该像素点的灰度不均匀程度，以所述子图像内的平均灰度不均匀程度作为所述子图像的图像粗糙度；

将所述图像粗糙度大于预设粗糙度阈值的所述子图像作为包含缺陷信息的缺陷子图像；将相邻的所述缺陷子图像合并为一个缺陷子图像集合；获得每个所述缺陷子图像集合的端点图像块；若所述缺陷子图像集合包含两个所述端点图像块，则将两个所述端点图像块的中心点之间的连线与水平方向的夹角作为划痕方向；若所述缺陷子图像集合包含多个所述端点图像块，则任选一个所述端点图像块作为起点块，获得每个所述端点图像块与所述起点块之间的中心点连线，以所述中心点连线的长度作为所述夹角的权重，将所有所述夹角加权求和后除以所有所述中心点连线的长度累加值，获得所述划痕方向；

其中，所述划痕方向的公式表达为：

其中， 为划痕方向，K为中心点连线的数量， 为第k个中心点连线的长度， 为第k个中心点连线的夹角；

根据所述划痕方向与每个预设计算方向的差异获得每个所述计算方向对应的计算权重；根据每个所述计算方向获得所述表面图像的子灰度游程矩阵；根据所述子灰度游程矩阵对应的所述计算权重将所有所述子灰度游程矩阵合并，获得每个所述划痕方向对应的灰度游程矩阵；

提取每个所述灰度游程矩阵的行程特征，根据所述行程特征获得缺陷程度；获得所有所述灰度游程矩阵的平均缺陷程度，根据所述平均缺陷程度大小对所述塑料薄膜的生产工艺进行调整;所述根据所述划痕方向与每个预设计算方向的差异获得每个所述计算方向对应的计算权重包括：利用计算权重公式获得所述计算权重，所述计算权重公式包括：

其中， 为所述计算权重， 为所述计算方向， 为所述划痕方向；所述计算方向至少包括0°、45°、90°和135°。

2.根据权利要求1所述的一种塑料薄膜缺陷分析处理方法，其特征在于，所述根据所述灰度直方图进行灰度级量化，获得多个灰度级包括：获得所述灰度直方图的每个波峰点和波谷点；以每个所述波峰点两侧相邻的所述波谷点之间的区域作为一个波段；利用灰度级量化公式根据所述波段中的坐标信息获得对应的初始灰度级，所述灰度级量化公式包括：其中，L为所述波段对应的所述初始灰度级， 为所述波段中的一个所述波谷点的横坐标， 为所述波段中另一个所述波谷点的横坐标， 为所述波段中的所述波谷点的纵坐标；

将所有所述初始灰度级归一化，获得所述灰度级。

3.根据权利要求2所述的一种塑料薄膜缺陷分析处理方法，其特征在于，所述获得所述灰度直方图的每个波峰点和波谷点包括：获得所述灰度直方图的直方图函数曲线，对所述直方图函数曲线进行高斯平滑后求导，获得导数曲线；获得所述导数曲线的所有零点；若所述零点在预设横坐标邻域范围内的导数值是递增的，则认为所述零点在所述灰度直方图中对应的位置为所述波谷点；若所述零点在所述横坐标邻域范围内的导数值是递减的，则认为所述零点在所述灰度直方图中对应的位置为所述波峰点。

4.根据权利要求1所述的一种塑料薄膜缺陷分析处理方法，其特征在于，所述根据所述子图像中每个像素点在预设邻域范围内的所述灰度级的分布获得该像素点的灰度不均匀程度包括：以像素点的所述邻域范围内的所述灰度级的熵作为所述灰度不均匀程度。

5.根据权利要求1所述的一种塑料薄膜缺陷分析处理方法，其特征在于，所述获得每个所述缺陷子图像集合的端点图像块包括：在所述缺陷子图像集合中任选一个所述缺陷子图像作为生长起点，利用生长算法以所述生长起点为中心对其他所述缺陷子图像进行生长，每次生长都会形成新的生长点，当所述生长点无法继续生长时，则认为对应的所述生长点为所述端点图像块。

6.根据权利要求1所述的一种塑料薄膜缺陷分析处理方法，其特征在于，所述提取每个所述灰度游程矩阵的行程特征，根据所述行程特征获得缺陷程度包括：所述行程特征包括短行程低灰度分布度量值和短行程高灰度分布度量值；以所述短行程低灰度分布度量值与所述短行程高灰度分布度量值的和作为所述缺陷程度。