1.一种电子芯片检测治具，包括检测底板（1），所述检测底板（1）上设有检测基座（2），所述检测基座（2）上设有一组检测探针（3），其特征在于，所述检测基座（2）的一端设有翻盖（4），所述翻盖（4）的中部设有与检测探针（3）位置相对的吸附块（5），所述吸附块（5）的外侧设有缓冲组件（6），所述吸附块（5）的内部设有吸附腔（501），所述吸附腔（501）内设有多个伸出吸附块（5）并贯穿于缓冲组件（6）的抽气软管（502），所述检测基座（2）的一端设有微型真空泵（7），所述微型真空泵（7）的输出端通过连接软管（8）与吸附腔（501）连通。

2.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测治具，其特征在于，所述缓冲组件（6）包括两个缓冲板（601），两个所述缓冲板（601）之间设有多个弹簧（602），两个所述缓冲板（601）上均设有一组通孔（603），两组通孔（603）一一对应形成一组安装孔（604），所述抽气软管（502）设在安装孔（604）内。

3.根据权利要求2所述的一种电子芯片检测治具，其特征在于，所述缓冲板（601）的外侧设有外表层（9），所述外表层（9）上设有一组与安装孔（604）相对的吸附孔（901），所述外表层（9）的外沿围绕设有一组橡胶凸起（10）。

4.根据权利要求3所述的一种电子芯片检测治具，其特征在于，所述外表层（9）由皮革材料制成。

5.根据权利要求1所述的一种电子芯片检测治具，其特征在于，所述检测基座（2）的一端设有安装槽（11），所述微型真空泵（7）设在安装槽（11）内，所述安装槽（11）的顶部设有固定板（12），所述固定板（12）上设有供连接软管（8）穿过的槽口（1201）。