1.一种高效率的芯片烧录测试设备，其特征在于：包括：

芯片烧录测试座(1)，芯片烧录测试座(1)的底部设置有底座(2)；

转动座(9)，转动座(9)的底部设置有吹气管(4)和真空管(6)，转动座(9)的顶部安装有阻挡板(13)，转动座(9)的顶部连接着转轴(14)，转轴(14)的表面安装有延伸板(11)；及通孔(3)，设于底座(2)的顶部。

2.根据权利要求1所述的一种高效率的芯片烧录测试设备，其特征在于：所述芯片烧录测试座(1)具有多组，多组芯片烧录测试座(1)均匀的排列在底座(2)的顶部，通孔(3)位于芯片烧录测试座(1)的左侧，通孔(3)具有多组，且通孔(3)的直径大于吹气管(4)的直径，吹气管(4)可从通孔(3)中穿过。

3.根据权利要求2所述的一种高效率的芯片烧录测试设备，其特征在于：所述吹气管(4)的顶部连接着第二连接管(12)，第二连接管(12)的顶部连接着吹气装置，真空管(6)的顶部连接着第一连接管(10)，第一连接管(10)的顶部连接着真空装置，真空管(6)的底部吸附有芯片(5)，芯片(5)呈方形。

4.根据权利要求1所述的一种高效率的芯片烧录测试设备，其特征在于：所述转轴(14)的底部固定连接在转动座(9)的顶部，转动座(9)跟随着转轴(14)转动，转轴(14)的顶部连接着马达(8)，马达(8)的顶部固定连接着连接杆(7)，连接杆(7)的顶部连接着升降装置，带动连接杆(7)进行升降。

5.根据权利要求4所述的一种高效率的芯片烧录测试设备，其特征在于：所述阻挡板(13)具有两组，延伸板(11)具有两组，两组阻挡板(13)位于转动座(9)的中间位置，阻挡板(13)阻挡延伸板(11)随着转轴(14)转动。

6.根据权利要求5所述的一种高效率的芯片烧录测试设备，其特征在于：所述转轴(14)顺时针转动时，延伸板(11)被阻挡板(13)阻挡时，真空管(6)位于芯片烧录测试座(1)的正上方，转轴(14)逆时针转动时，延伸板(11)被阻挡板(13)阻挡时，吹气管(4)位于芯片烧录测试座(1)的正上方。