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专利号: 202221921621X
申请人: 徐冰倩
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2023-12-12
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种地质剖面测量用地层取样装置,包括限位套筒(1)和取样筒(2),所述取样筒(2)设置于限位套筒(1)的内部,其特征在于:所述取样筒(2)的前部与后部均固定安装有受力把手(3),所述限位套筒(1)的表面开设有与受力把手(3)相适配的通槽(4),所述限位套筒(1)表面的一侧固定安装有U型安装板(5),所述U型安装板(5)内腔一侧的前部与后部均固定安装有弹簧(6),两个所述弹簧(6)的一端固定安装有封堵斜块(7),所述限位套筒(1)的表面开设有与封堵斜块(7)相适配的开口(8)。

2.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量用地层取样装置,其特征在于:所述限位套筒(1)的顶部通过开设螺纹孔连接有推杆(11),所述推杆(11)的底端且位于限位套筒(1)的内部固定安装有排样板(12),所述排样板(12)的表面固定安装有刮条(14),所述刮条(14)设置有多个且呈等距均匀分布于排样板(12)的表面。

3.根据权利要求2所述的一种地质剖面测量用地层取样装置,其特征在于:所述推杆(11)表面的上部与下部均设置有外螺纹(13),所述限位套筒(1)表面的另一侧通过开设螺纹孔螺纹连接有限位螺栓(15),所述取样筒(2)的表面开设有与限位螺栓(15)相适配的限位槽(16)。

4.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量用地层取样装置,其特征在于:所述限位套筒(1)前后左右的四个面且位于通槽(4)的下方均固定安装有安装杆(18),四个所述安装杆(18)的一端之间固定安装有限位圈(19)。

5.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量用地层取样装置,其特征在于:所述开口(8)内腔的底部通过连接件固定安装有滑块(9),所述封堵斜块(7)的底部开设有与滑块(9)相适配的滑槽(10)。

6.根据权利要求2所述的一种地质剖面测量用地层取样装置,其特征在于:所述推杆(11)的顶端固定安装有转动把手(17)。