1.一种用于芯片检测的芯片支撑装置，包括U型底座(1)，其特征在于：所述U型底座(1)的内部设置有支撑顶出组件(2)，所述支撑顶出组件(2)的内部设置有拨动件(3)，所述支撑顶出组件(2)的顶端活动连接有待检测芯片(4)，所述拨动件(3)与待检测芯片(4)之间活动连接，所述支撑顶出组件(2)用于支撑待检测芯片(4)和方便放取待检测芯片(4)；

所述U型底座(1)的内侧一壁固定安装有橡胶块(5)，所述橡胶块(5)与待检测芯片(4)之间活动连接，所述U型底座(1)的内侧另一壁内部设置有固定组件(6)，所述固定组件(6)与支撑顶出组件(2)之间活动连接，所述固定组件(6)与橡胶块(5)配合用于自动夹持固定待检测芯片(4)。

2.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于：所述U型底座(1)的内侧底壁开设有固定孔(11)，所述固定孔(11)的内腔底壁与支撑顶出组件(2)之间固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于：所述支撑顶出组件(2)包括第一微型电动推杆(21)，所述第一微型电动推杆(21)的底端与固定孔(11)的内腔底壁之间固定连接，所述第一微型电动推杆(21)的外表面与固定孔(11)的内腔活动连接；

所述第一微型电动推杆(21)的顶端固定安装有支撑板(22)，所述支撑板(22)与橡胶块(5)之间活动连接，所述支撑板(22)的顶端固定安装有防滑垫(23)，所述支撑板(22)的内部与拨动件(3)之间活动连接，所述防滑垫(23)与固定组件(6)之间活动连接，所述防滑垫(23)与待检测芯片(4)之间活动连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于：所述支撑板(22)、防滑垫(23)的顶端内部均开设有活动孔(221)，所述活动孔(221)的内腔侧壁开设有通孔(222)，所述活动孔(221)、通孔(222)的内腔均与拨动件(3)之间活动连接。

5.根据权利要求4所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于：所述拨动件(3)包括拨片(31)，所述拨片(31)与活动孔(221)的内腔之间活动连接，所述拨片(31)与待检测芯片(4)之间活动连接；

所述拨片(31)的外表面活动连接有拨杆(32) ，所述拨杆(32)与活动孔(221)、通孔(222)内腔均活动连接，所述拨杆(32)远离拨片(31)的一端固定安装有拨柄(33)。

6.根据权利要求1所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于：所述U型底座(1)远离橡胶块(5)的一侧内部开设有活动槽(12)，所述活动槽(12)的内腔与固定组件(6)之间活动连接。

7.根据权利要求6所述的一种用于芯片检测的芯片支撑装置，其特征在于：所述固定组件(6)包括U型板(61)，所述U型板(61)与U型底座(1)的外表面之间固定连接，所述U型板(61)的内侧固定安装有第二微型电动推杆(62)，所述第二微型电动推杆(62)远离U型板(61)的一端固定安装有活动板(63)，所述活动板(63)与活动槽(12)的内腔之间活动连接，所述活动板(63)的底端与支撑顶出组件(2)之间活动连接，所述活动板(63)的外表面固定安装有橡胶垫(64)，所述橡胶垫(64)与待检测芯片(4)之间活动连接。