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专利号: 2023100654917
申请人: 西南交通大学
专利类型:发明专利
专利状态:已下证
专利领域: 计算;推算;计数
更新日期:2024-01-05
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种活动断裂带错动地层变形计算方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、调研得到实测地层变形曲线;

步骤S2、根据实测地层变形曲线统计得到各曲线的变形范围;

步骤S3、根据变形范围得到竖直方向和水平方向的变形范围计算方法;

步骤S4、根据竖直、水平方向变形范围计算方法得到竖直方向和水平方向的地层变形计算方法;

步骤S5、根据竖直方向地层变形计算方法得到纵向地层变形计算方法;

步骤S6、根据竖直、水平和纵向地层变形计算方法得到活动断裂带任意点的任意方向错动地层变形;

所述步骤S3具体包括:步骤S31、分别统计正断层和逆断层的实测上盘变形范围和实测下盘变形范围,然后将正断层和逆断层的实测上、下盘变形范围作为基础数据,拟合得到竖直方向变形范围计算方法,公式如下:i上z=F1(u上zmax)      (1)

i下z=F1(u下zmax)      (2);

式中:F1(x)为竖直方向变形范围拟合函数;i上z为活动断裂带竖直方向上盘地层变形范围,i下z为活动断裂带竖直方向下盘地层变形范围,u上zmax为活动断裂带竖直方向上盘最大错动量,可根据场地地震安全性评价获得,u下zmax为活动断裂带竖直方向下盘最大错动量,可根据场地地震安全性评价获得;

步骤S32、分别统计左旋走滑断层和右旋走滑断层的实测上盘变形范围和实测下盘变形范围,然后将左旋走滑断层和右旋走滑断层的实测上、下盘变形范围作为基础数据,拟合得到水平方向变形范围计算方法,公式如下:i上x=F2(u上xmax)     (3)

i下x=F2(u下xmax)     (4);

式中:F2(x)为水平方向变形范围拟合函数;i上x为活动断裂带水平方向上盘地层变形范围,i下x为活动断裂带水平方向下盘地层变形范围,u上xmax为活动断裂带水平方向上盘最大错动量,可根据场地地震安全性评价获得,u下xmax为活动断裂带水平方向下盘最大错动量,可根据场地地震安全性评价获得;

所述步骤S4具体包括:步骤S41、根据实测地层变形曲线及竖直方向变形范围计算方法,分上盘和下盘拟合得到竖直方向地层变形计算方法,公式如下:u上z=G1(u上zmax,y,i上z)    (5)

u下z=G1(u下zmax,y,i下z)    (6);

式中:G1(x,y,z)为竖直方向地层变形拟合函数,y为断层距,u上z为断层距为y处的竖直方向上盘地层变形,u下z为断层距为y处的竖直方向下盘地层变形;

步骤S42、根据实测地层变形曲线及水平方向变形范围计算方法,分上盘和下盘拟合得到水平方向地层变形计算方法,公式如下:u上x=G2(u上xmax,y,i上x)    (7)

u下x=G2(u下xmax,y,i下x)    (8);

式中:G2(x,y,z)为水平方向地层变形拟合函数;u上x为断层距为y处的水平方向上盘地层变形,u下x为断层距为y处的水平方向下盘地层变形;

所述步骤S5具体包括:步骤S51、根据统计得出当活动断裂带为正断层或逆断层时,活动断裂带将在纵向产生拉伸或压缩,发生纵向地层变形;

步骤S52、根据统计得出在断层面处活动断裂带纵向地层变形与竖直方向地层变形的比值为断层倾角的正切值,当断层距超过竖直方向变形范围外时,纵向地层变形为0;

步骤S53、基于活动断裂带纵向地层变形和竖直方向地层变形的关系,以及纵向地层变形的特点,得到纵向地层变形计算方法,公式如下:u上y=H(u上zmax,y',i上z)    (9)

u下y=H(u下zmax,y',i下z)   (10);

式中:H(x,y,z)为纵向地层变形拟合函数;y'为断层距,当y'小于竖直方向变形范围时取真实断层距,当y '大于竖直方向变形范围时取0,u上y为断层距为y '时的纵向上盘地层变形,u下y为断层距为y'时的纵向下盘地层变形,α为活动断裂带的倾角。

2.一种活动断裂带错动地层变形计算的设备,其特征在于,包括:至少一个处理器,以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器执行所述指令时实现如权利要求1所述活动断裂带错动地层变形计算方法。

3.一种可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于使计算机执行如权利要求1所述活动断裂带错动地层变形计算方法。