1.一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

将仪器表盘玻璃表面的可见光图像记为待分析图像，对待分析图像进行直线检测得到待分析线段，并将待分析图像划分为固定大小的块区域；

根据块区域内包含的待分析线段的数量得到第一系数，根据块区域内包含的待分析线段之间的距离获取第二系数，根据块区域内包含的待分析线段的长度得到第三系数，根据第一系数、第二系数和第三系数得到块区域的缺陷程度指标；

根据块区域的缺陷程度指标得到待分析图像的缺陷异常矩阵，对缺陷异常矩阵进行分解得到特征值；根据特征值以及特征值的数量得到待分析图像的质量检测指标；根据质量检测指标得到仪器表盘的玻璃质量检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述根据特征值以及特征值的数量得到待分析图像的质量检测指标具体为：根据异常特征矩阵的任意一个特征值的数量与所有特征值的数量得到该特征值的特征权重，根据特征值与所有特征值的均值之间的差值、以及特征权重得到待分析图像的质量检测指标。

3.根据权利要求2所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述质量检测指标的计算公式具体为：其中，表示待分析图像的质量检测指标，n表示待分析图像的缺陷异常矩阵的特征值的总数量， 表示第t个特征值的取值，表示特征值的取值为 的特征值数量，表示所有特征值的均值，为特征权重。

4.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述第二系数的获取方法具体为：对于任意一个块区域，当块区域内待分析线段的数量小于预设的数量阈值时，将块区域的第二系数的取值设置为预设的第一数值；当块区域内待分析线段的数量大于或等于预设的数量阈值时，计算任意两条待分析线段的中点之间的距离记为特征距离，以块区域内所有任意两条待分析线段对应的特征距离的均值作为第二系数。

5.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述第三系数的获取方法具体为：对于任意一个块区域，以所有待分析线段的长度的均值作为第三系数。

6.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述缺陷程度指标的获取方法具体为：对于任意一个块区域，计算第一系数和第三系数的乘积，以所述乘积与第二系数的比值作为缺陷程度指标。

7.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述第一系数的获取方法具体为：对于任意一个块区域，以该块区域内所有待分析线段上像素点的总数量与该块区域内所有像素点的总数量之间的比值作为第一系数。

8.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述根据块区域的缺陷程度指标得到待分析图像的缺陷异常矩阵具体为：利用待分析图像中块区域的缺陷程度指标对像素点的像素值进行赋值，得到缺陷特征图像，获取缺陷特征图像的图像矩阵以及其转置矩阵，以图像矩阵与其转置矩阵的内积作为待分析图像的缺陷异常矩阵。

9.根据权利要求1所述的一种用于仪器表盘的玻璃质量检测方法，其特征在于，所述根据质量检测指标得到仪器表盘的玻璃质量检测结果具体为：当待分析图像的质量检测指标小于预设的第一阈值时，仪器表盘的玻璃质量检测结果为第一缺陷等级；当待分析图像的质量检测指标大于或等于第一阈值小于预设的第二阈值时，仪器表盘的玻璃质量检测结果为第二缺陷等级；当待分析图像的质量检测指标大于或等于第二阈值时，仪器表盘的玻璃质量检测结果为第三缺陷等级。