1.一种激光芯片测试系统，其特征在于，包括光功率测试设备、光波形测试设备、分束镜、准直镜和电源，其中，所述电源为待测试激光芯片供电，准直镜一侧用于设置待测试激光芯片，准直镜另一侧设有分束镜，所述分束镜的两条输出光路分别设有光功率测试设备和光波形测试设备。

2.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述光功率测试设备为波形探测器。

3.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述光功率测试设备为光功率计、热功率计和硅光功率计中的一种。

4.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述分束镜的透反率≥

9：1。

5.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述分束镜和光波形测试设备之间设有衰减片。

6.根据权利要求5所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，还包括聚焦透镜，所述聚焦透镜设于衰减片和光波形测试设备之间,用于聚焦光线。

7.根据权利要求1所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，还包括驱动电路，所述驱动电路分别用于和待测试激光芯片及电源连接。

8.根据权利要求1‑7任一项所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，还包括芯片固定位，所述芯片固定位位于准直镜一端。

9.根据权利要求1‑7任一项所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述待测试激光芯片为垂直腔面发射激光器阵列。

10.根据权利要求6所述的一种激光芯片测试系统，其特征在于，所述聚焦透镜和衰减片之间设有准直镜一。