1.一种芯片测试分选装置，包括测试分选装置本体（1），其特征在于：所述测试分选装置本体（1）底部均匀设置有多个支撑杆（2），多个所述支撑杆（2）横截面形状均设置为倒T形，多个所述支撑杆（2）底部均设置有防滑套（3），多个所述防滑套（3）均由橡胶材料制成，多个所述防滑套（3）底部共同设置有放置板（4），所述放置板（4）顶部接触防滑套（3）的一面开设有放置槽，所述放置板（4）顶部设置有限制机构。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述限制机构包括第一压板（5），所述第一压板（5）一侧设置有第二压板（6），所述第一压板（5）与第二压板（6）相反一侧均设置有两个限位板（7）。

3.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：多个所述限位板（7）横截面形状均设置为L形，每两个所述限位板（7）之间均设置有第一连接杆（8）。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第一连接杆（8）两端均贯穿其对应的限位板（7）并延伸至限位板（7）外部，所述第一连接杆（8）位于限位板（7）外部的一端设置有固定板（16），所述第一连接杆（8）上设置有弹簧（9）。

5.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述限位板（7）一侧设置有第一卡板（10），所述第一卡板（10）一侧开设有第一卡槽，所述第一卡槽内部设置有第二卡板（11）。

6.根据权利要求2所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第一压板（5）与第二压板（6）之间设置有两个连接环（12），所述连接环（12）顶部设置有连接块（13），所述连接块（13）顶部与测试分选装置本体（1）底部相连接，所述连接环（12）内部设置有第二连接杆（14）。

7.根据权利要求6所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述第二连接杆（14）两端均开设有第一凹槽，两个所述第一凹槽内部均设置有第三连接杆（15）。

8.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述支撑杆（2）接触第一卡板（10）的一面开设有第二卡槽。