1.一种半导体高压测试治具，包括测试机构(1)，其特征在于，还包括：

底座(2)；

支撑架(3)，所述支撑架(3)固定连接在底座(2)上，所述测试机构(1)安装在支撑架(3)上；

预存放置机构，所述预存放置机构设置在底座(2)和支撑架(3)上，用于对半导体芯片进行测试和预存；

辅助机构，所述辅助机构设置在预存放置机构上，用于方便人们对半导体芯片进行取出。

2.根据权利要求1所述的一种半导体高压测试治具，其特征在于：所述预存放置机构包括滑槽、电机(4)和两个开口(5)，所述滑槽开设在底座(2)上，所述电机(4)安装在底座(2)上，两个所述开口(5)均开设在支撑架(3)上，所述滑槽内滑动连接有滑板(6)，所述滑槽内转动连接有螺纹轴(7)，所述螺纹轴(7)与滑板(6)螺纹连接，所述电机(4)的输出端贯穿入滑槽并与螺纹轴(7)固定连接，所述滑板(6)上固定连接有两个固定块(8)，所述固定块(8)上开设有多个放置槽。

3.根据权利要求2所述的一种半导体高压测试治具，其特征在于：所述辅助机构包括多个腔室(9)，所述腔室(9)开设在固定块(8)上，所述腔室(9)位于放置槽的下方，所述腔室(9)的内底壁上安装有电动推杆(10)，所述电动推杆(10)的输出端固定连接有固定板(11)，所述固定板(11)上固定连接有多个顶杆(12)，多个所述顶杆(12)均贯穿入放置槽，多个所述顶杆(12)上固定连接有顶板(13)。

4.根据权利要求3所述的一种半导体高压测试治具，其特征在于：所述放置槽内固定连接有绝缘层一(14)，所述顶板(13)上固定连接有绝缘层二(15)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体高压测试治具，其特征在于：所述滑槽内固定连接有多个导向轴(16)，所述滑板(6)滑动连接在多个导向轴(16)上。

6.根据权利要求5所述的一种半导体高压测试治具，其特征在于：所述固定块(8)上固定连接有缓冲垫(17)。