1.一种半导体测试用底座，包括支撑座（1）、测试座（11）、用于改变测试座（11）角度的调节部件、用于控制测试座（11）横向位置的横向移动部件以及用于控制测试座（11）纵向位置的纵向移动部件，其特征在于：所述调节部件包括与支撑座（1）内一侧转动连接的第一转轴（21）、与支撑座（1）内另一侧转动连接的第二转轴（22）、与第一转轴（21）和第二转轴（22）固定连接的支撑台（23）、与第一转轴（21）外侧固定连接的蜗轮（24）、与蜗轮（24）相连的蜗杆（25）、分别与蜗杆（25）两端相连的连接板（26）以及与蜗杆（25）一端相连的第一电机（27），所述蜗杆（25）与蜗轮（24）啮合，所述连接板（26）与支撑座（1）固定连接。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试用底座，其特征在于：所述横向移动部件包括开设于支撑台（23）顶部的第一移动槽（31）、滑动设于第一移动槽（31）内的第一移动块（32）、与第一移动块（32）相连的第一螺杆（33）、开设于支撑台（23）顶部一侧的安装口（34）以及与第一螺杆（33）一端相连的第二电机（35），所述第一螺杆（33）贯穿第一移动块（32）且与第一移动块（32）螺接，所述第一螺杆（33）与支撑台（23）转动连接，所述第二电机（35）安装在安装口（34）内。

3.根据权利要求1所述的一种半导体测试用底座，其特征在于：所述纵向移动部件包括与第一移动块（32）顶部固定连接的支撑板（41）、开设于支撑板（41）顶部的第二移动槽（42）、滑动设于第二移动槽（42）内的第二移动块（43）、与第二移动块（43）顶部固定连接的固定板（44）、与第二移动块（43）相连的第二螺杆（45）以及与第二螺杆（45）一端相连的第三电机（46），所述第二螺杆（45）贯穿第二移动块（43）且与第二移动块（43）螺接，所述第二螺杆（45）与支撑板（41）转动连接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试用底座，其特征在于：所述固定板（44）顶部两侧分别固定连接有电动伸缩杆（441），所述电动伸缩杆（441）顶部与测试座（11）底部固定连接。

5.根据权利要求1所述的一种半导体测试用底座，其特征在于：所述测试座（11）顶部两侧分别开设有滑槽（51），所述滑槽（51）内滑动连接有滑块（52），所述滑块（52）上设有双向螺杆（53），所述双向螺杆（53）一端设有第四电机（54），所述滑块（52）顶部固定连接有夹持板（55），所述双向螺杆（53）贯穿滑块（52）且与滑块（52）螺接，所述双向螺杆（53）与测试座（11）转动连接。

6.根据权利要求5所述的一种半导体测试用底座，其特征在于：所述夹持板（55）一侧开设有均匀排列的多个滑动口（561），所述滑动口（561）内滑动连接有推杆（562），所述推杆（562）一端固定连接有定位板（563），所述推杆（562）外侧套设有弹簧（564）。

7.根据权利要求5所述的一种半导体测试用底座，其特征在于：所述滑块（52）形状为工形，所述滑槽（51）形状为T形。