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专利号: 2023215645329
申请人: 系科仪器(上海)有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2024-02-23
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种光学元器件厚度的测量装置,包括测量机构(1),其特征在于,所述测量机构(1)的顶部设置有固定机构(2),所述固定机构(2)的内部设置有光学透镜(3),所述固定机构(2)包括放置板(201),所述放置板(201)的底部开设有若干滑轨,所述放置板(201)位于滑槽内壁滑动连接有若干个活动杆(209),若干个所述活动杆(209)的顶部固定连接有夹板(202),若干个所述夹板(202)的内壁与光学透镜(3)活动连接。

2.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于,所述放置板(201)的顶部与光学透镜(3)活动连接,所述放置板(201)的底部中间转动连接有转动杆(205),所述转动杆(205)靠近放置板(201)的一侧开设有滑槽(204),且所述滑槽(204)为弧形。

3.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于,若干个所述活动杆(209)的外侧壁靠近转动杆(205)的一侧固定安装有销轴(203),所述销轴(203)的外侧壁与滑槽(204)的内壁滑动连接。

4.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于,所述测量机构(1)包括平台(101),所述平台(101)的顶部固定安装有上支撑架(102),所述上支撑架(102)的底部内壁滑动连接有接触探头(103),所述接触探头(103)的底部与光学透镜(3)活动连接。

5.根据权利要求4所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于,所述平台(101)的顶部中间与放置板(201)固定连接,所述夹板(202)的底部与平台(101)滑动连接。

6.根据权利要求2所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于,所述转动杆(205)的底部外侧壁固定安装有齿轮圈,所述齿轮圈的外侧壁啮合连接有链条(206),所述链条(206)的另一端内壁啮合连接有齿轮(207),所述齿轮(207)的顶部穿过平台(101)且固定连接有旋钮(208),所述旋钮(208)的外侧壁与平台(101)转动连接。

7.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置,其特征在于,若干个所述夹板(202)之间活动连接,若干个所述夹板(202)互相闭合时为环形且内壁与放置板(201)活动连接。