1.一种芯片测试分选装置，包括工作台(1)和视觉检测相机(2)，其特征在于：所述工作台(1)的一侧固定安装有机架(101)，所述视觉检测相机(2)固定安装于机架(101)的内侧顶部，所述机架(101)的侧面固定安装有控制器(102)，所述工作台(1)的表面开设有凹槽(3)，所述凹槽(3)的上端通过转轴(4)转动安装有载料架(5)，所述载料架(5)的上端位于视觉检测相机(2)的正下方固定安装有伸缩气缸(501)，所述伸缩气缸(501)的伸缩端固定安装有芯片定位框(7)，所述芯片定位框(7)的底部接触于载料架(5)的表面，所述载料架(5)与芯片定位框(7)配合形成有测试区(8)，所述凹槽(3)的内部固定安装有电机(6)，所述转轴(4)的外侧固定套接有齿环(401)，所述电机(6)的驱动轴固定安装有齿轮(601)，所述齿轮(601)与齿环(401)相啮合，所述工作台(1)上位于载料架(5)两侧分别固定设置有成品料槽(103)和次品料槽(104)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述视觉检测相机(2)的输出端电性连接于控制器(102)的输入端，所述控制器(102)的输出端电性连接于伸缩气缸(501)和电机(6)的输入端。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述成品料槽(103)的表面粘贴有成品标签条(105)，所述次品料槽(104)的表面粘贴有次品标签条(106)。

4.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述齿轮(601)的直径尺寸小于齿环(401)的外径尺寸。

5.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述齿轮(601)的上端固定安装有顶轴，所述凹槽(3)的内侧固定安装有轴承座(301)，所述轴承座(301)转动连接于顶轴的上端。

6.根据权利要求1所述的一种芯片测试分选装置，其特征在于：所述载料架(5)表面开设有减重口(502)，所述减重口(502)截面形状为矩形。