1.一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板(1)，所述底板(1)的两侧各固定连接一个侧板(2)，其特征在于：所述底板(1)的顶面滑动连接两个左右镜像对称的推板(8)，每个所述推板(8)的内侧分别固定粘贴一个橡胶片(7)，两个所述推板(8)分别与两个所述侧板(2)伸缩连接，每个所述推板(8)和所述侧板(2)之间设有一个驱动件，两个所述驱动件均固定连接在所述底板(1)的顶面。

2.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述驱动件包括两个固定连接在所述底板(1)顶面的支撑板(11)，两个所述支撑板(11)之间旋转连接一个转轴(13)，所述转轴(13)的外缘固定套接凸轮(10)，其中一个所述支撑板(11)的外侧水平固定一个与所述转轴(13)末端传动连接的旋转电机(12)，所述底板(1)的顶面横向贯穿两个左右镜像对称的通槽(6)，所述通槽(6)位于所述凸轮(10)的正下方。

3.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：每个所述侧板(2)的外侧均贯穿有沉头孔(3)，所述沉头孔(3)内轴向滑动套接推杆(9)，所述推杆(9)的一端与所述推板(8)固定连接，另一端固定连接限位块(5)，所述推杆(9)的外缘套接弹簧(4)，所述弹簧(4)的两端分别与所述限位块(5)以及所述沉头孔(3)抵接。

4.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：两个所述凸轮(10)的朝向相同，且两个所述旋转电机(12)的旋转方向相反。

5.根据权利要求1所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述底板(1)的顶面横向开设两个前后镜像对称的滑槽，每个所述滑槽内滑动连接两个滑块，所述滑块分别固定连接在所述推板(8)的底面。

6.根据权利要求2所述的一种带限位结构的芯片测试装置，其特征在于：所述凸轮(10)的长度等于所述通槽(6)长度的一半，且所述推板(8)的背面与所述支撑板(11)贴合。