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专利号: 2023219818026
申请人: 盘锦嘉碳新材料有限公司
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-01-09
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种高孔隙率测量装置,包括测量主机(1),所述测量主机(1)的顶部设置有托台(5),所述托台(5)的顶端设置有测量水箱(3),其特征在于:所述托台(5)的端面中心处开设有升降凹槽(10),所述升降凹槽(10)的内侧设置有中心座(11),所述中心座(11)的底部设置有弹簧(16),所述升降凹槽(10)的四个侧面均开设有侧孔(6),所述中心座(11)的四个侧面均开设有侧槽(9),所述侧孔(6)的内部贯穿有夹持板(4),所述夹持板(4)的一端置于侧槽(9)的内部,所述夹持板(4)的一端表面开设有驱动孔(13),所述驱动孔(13)的内部设置有驱动柱(12),所述驱动柱(12)固定在侧槽(9)的内壁上。

2.根据权利要求1所述的一种高孔隙率测量装置,其特征在于:所述夹持板(4)的侧壁开设有限位孔(8),所述限位孔(8)的内部设置有限位块(7),所述限位块(7)固定在侧孔(6)的内壁上。

3.根据权利要求2所述的一种高孔隙率测量装置,其特征在于:所述夹持板(4)的另一端与测量水箱(3)之间设置有橡胶垫(2),且橡胶垫(2)固定在夹持板(4)的端面上。

4.根据权利要求1所述的一种高孔隙率测量装置,其特征在于:所述弹簧(16)的内侧设置有内柱(15),所述内柱(15)固定在升降凹槽(10)的端面上,所述内柱(15)的外部套设有内筒(14),所述内筒(14)固定在中心座(11)的表面上。

5.根据权利要求4所述的一种高孔隙率测量装置,其特征在于:所述内柱(15)和内筒(14)的横截面均为圆形结构,且内柱(15)和内筒(14)两者的中心轴线相互重合。

6.根据权利要求1所述的一种高孔隙率测量装置,其特征在于:所述中心座(11)的横截面为矩形结构,所述夹持板(4)的纵截面为L型结构。

7.根据权利要求1所述的一种高孔隙率测量装置,其特征在于:所述测量主机(1)的底端四个拐角处均连接有地脚,所述测量主机(1)的面板上设置有操作按钮。