1.一种建筑设计专用高精度测量装置，包括本体(1)，其特征在于：所述本体(1)顶端开设若开折叠尺槽(2)，所述本体(1)顶端开设若干零件槽(3)，所述本体(1)顶端开设三角尺槽(4)，所述本体(1)顶端固定设置有壳盖(5)，所述本体(1)顶端固定设置有若干折叠尺(6)，所述折叠尺(6)内开设移动槽(7)，所述折叠尺(6)内活动设置有移动螺纹帽(8)，所述移动螺纹帽(8)内活动设置有螺纹杆(9)，所述螺纹杆(9)与移动螺纹帽(8)螺栓连接，所述移动螺纹帽(8)与折叠尺(6)活动连接，所述折叠尺(6)顶端开设两个螺纹孔(10)，折叠尺(6)顶端活动设置有三角尺(11)，所述三角尺(11)顶端开设第二螺纹孔(12)，所述第二螺纹孔(12)活动连接有第二螺纹杆(13)，所述第二螺纹杆(13)穿过第二螺纹孔(12)与折叠尺(6)活动连接，所述折叠尺(6)与三角尺(11)活动连接。

2.根据权利要求1所述的一种建筑设计专用高精度测量装置，其特征在于：所述本体(1)一侧固定设置有第一把手(14)。

3.根据权利要求1所述的一种建筑设计专用高精度测量装置，其特征在于：所述本体(1)另一侧固定设置有第二把手(15)。

4.根据权利要求1所述的一种建筑设计专用高精度测量装置，其特征在于：所述壳盖(5)一侧固定设置有第三把手，(16)。

5.根据权利要求1所述的一种建筑设计专用高精度测量装置，其特征在于：所述壳盖(5)一侧固定设置有第一磁铁(17)。

6.根据权利要求1所述的一种建筑设计专用高精度测量装置，其特征在于：所述本体(1)顶端固定设置有第二磁铁(18)。