1.一种半导体测试装置，包括测试台（1）和支架（4），其特征在于，所述支架（4）整体呈L型，所述支架（4）内侧壁上安装有测试机箱（5），所述测试机箱（5）的底部位于所述测试台（1）的顶部，所述测试台（1）整体呈圆盘状，且所述测试台（1）顶部均匀设置有多个芯片定位机构（2），所述支架（4）的下部结构和所述测试台（1）之间安装有换位驱动机构（3）。

2.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述芯片定位机构（2）包括芯片定位框（21）、定位组件（22）和驱动按钮（23），所述定位组件（22）安装于所述芯片定位框（21）的内部贴合边框处，所述驱动按钮（23）安装于所述芯片定位框（21）前侧边框的顶部。

3.根据权利要求2所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述定位组件（22）包括夹持组件（221）、导向组件（222）和定位夹板（223），所述夹持组件（221）和所述导向组件（222）分别安装于所述芯片定位框（21）内部的前后边框的内壁内部，所述定位夹板（223）有两个平行分布且于所述夹持组件（221）驱动端和所述导向组件（222）导向端相对接。

4.根据权利要求3所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述夹持组件（221）包括双轴减速电机（2211）、驱动丝杆（2212）和螺纹套管（2213），所述双轴减速电机（2211）位于中心，所述驱动丝杆（2212）有两个分别对接于所述双轴减速电机（2211）两侧输出端上，所述螺纹套管（2213）有两个分别螺纹套接于两侧所述驱动丝杆（2212）上，两侧所述螺纹套管（2213）外侧面分别与两侧所述定位夹板（223）同侧一端固定连接。

5.根据权利要求3所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述导向组件（222）包括导向柱（2221）和导向套管（2222），所述导向柱（2221）安装于所述芯片定位框（21）前侧边框的内部，所述导向套管（2222）有两个分别滑动套接于所述导向柱（2221）的两端，两侧所述导向套管（2222）外侧面分别与两侧所述定位夹板（223）同侧一端固定连接。

6.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述换位驱动机构（3）包括底支架（31）、步进电机（32）和支撑台（33），所述底支架（31）安装于所述支架（4）下部结构的上方，所述支撑台（33）安装于所述底支架（31）的顶部，所述测试台（1）整体转动安装于所述底支架（31）的顶部，所述步进电机（32）安装于所述底支架（31）底部的中心，且所述步进电机（32）的输出轴穿过所述支撑台（33）与所述测试台（1）底部中心固定连接。

7.根据权利要求1所述的一种半导体测试装置，其特征在于，所述测试机箱（5）底部设置有测试通道（51）。