1.一种集成电路测试装置，包括测试仪(1)，其特征在于：所述测试仪(1)的表面开设有若干个传输口(2)，所述测试仪(1)的表面设有限位结构(3)，所述限位结构(3)包括框架(301)，所述框架(301)与测试仪(1)的表面固定连接，所述框架(301)的表面开设有凹槽(302)，所述框架(301)远离测试仪(1)的一侧固定连接有两个U形架(303)，所述U形架(303)的表面转动连接有支撑臂(304)，所述U形架(303)的表面滑动贯穿有插销(305)，所述支撑臂(304)的表面开设有两个圆槽(306)，所述圆槽(306)的尺寸与插销(305)的尺寸相适配，所述支撑臂(304)的表面固定连接有挡板(307)。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述插销(305)的圆弧面套有弹簧(308)，所述弹簧(308)的两端分别与插销(305)和U形架(303)固定连接。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(301)的表面固定连接有若干个圆杆(309)，所述圆杆(309)的套有若干个圆筒(310)。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述框架(301)的表面螺纹贯穿有驱动杆(311)，所述驱动杆(311)的一端转动连接有矩形板(312)。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试仪(1)的表面设有防护结构(4)，所述防护结构(4)包括矩形框(41)，所述矩形框(41)与测试仪(1)的表面固定连接，所述矩形框(41)的表面固定连接有橡胶垫(42)，所述橡胶垫(42)的表面开设有三个矩形孔(43)。

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述测试仪(1)的表面固定连接有若干个限位板(44)，若干个所述限位板(44)两两一组。

7.根据权利要求5所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述矩形孔(43)的内壁固定连接有矩形垫(45)，所述矩形垫(45)的表面固定连接有弹力绳(46)。