1.一种计算机内存条耐用性试验装置，包括装置固定壳体(1)，其特征在于：所述装置固定壳体(1)顶部表面开设有若干按钮凹槽(2)，所述装置固定环体，所述装置固定壳体(1)中部开设有方形孔洞，所述装置固定壳体(1)中部安装半导体液冷机构(3)，所述装置固定壳体(1)顶部开设有若干孔洞，所述装置固定壳体(1)顶部安装散热机构(4)，所述散热机构(4)底部安装若干防水机构(5)。

2.根据权利要求1所述的一种计算机内存条耐用性试验装置，其特征在于：所述半导体液冷机构(3)包括板体(6)，所述板体(6)底部安装冷却液储存仓(7)，所述冷却液储存仓(7)外安装若干双行液冷管(8)，所述双行液冷管(8)一端均开设有孔洞，所述双行液冷管(8)均通过螺栓安装在板体(6)底部。

3.根据权利要求1所述的一种计算机内存条耐用性试验装置，其特征在于：所述双行液冷管(8)中部均安装若干圆弧液冷管(9)，所述圆弧液冷管(9)一侧均开设有孔洞，所述圆弧液冷管(9)一侧均安装若干循环管装置(10)，所述板体(6)顶部开设有若干凹槽，所述板体(6)顶部安装若干磁铁块(11)，所述磁铁块(11)通过焊接的方式安装在板体(6)顶部的凹槽内部。

4.根据权利要求1所述的一种计算机内存条耐用性试验装置，其特征在于：所述板体(6)外均安装若干卡扣装置(12)，所述卡扣装置(12)底端安装弹簧固定盒(13)，所述弹簧固定盒(13)外均开设有若干方形孔洞，所述弹簧固定盒(13)外均安装若干半圆按钮(14)，所述半圆按钮(14)表面开设有若干孔洞，所述半圆按钮(14)一侧安装X型活动条(15)，所述X型活动条(15)中部安装若干转轴(16)。

5.根据权利要求1所述的一种计算机内存条耐用性试验装置，其特征在于：所述散热机构(4)包括若干线路固定板(17)，所述线路固定板(17)一侧均开设有若干孔洞，所述线路固定板(17)一侧通过合页安装在装置固定壳体(1)顶部表面，所述线路固定板(17)中部表面开设有若干方形凹槽，所述线路固定板(17)内置若干风扇装置(18)，所述风扇通过螺栓安装线路固定板(17)内部。

6.根据权利要求1所述的一种计算机内存条耐用性试验装置，其特征在于：所述防水机构(5)包括若干发热模块(19)，所述发热模块(19)顶部表面开设有若干孔洞，所述发热模块(19)通过螺栓安装在装置固定壳顶部表面。