1.一种集成电路测试治具，包括治具主体(1)，其特征在于：所述治具主体(1)的前端活动连接有伸缩挡板(2)，所述治具主体(1)的右端安装有接电器(3)，所述治具主体(1)的顶端活动连接有放大器(4)，所述治具主体(1)的内端活动连接有电路板(5)，所述电路板(5)与伸缩挡板(2)相适配，所述电路板(5)的顶端固定连接有接电端子(6)，所述接电端子(6)与接电器(3)相适配。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述治具主体(1)包括定位板(101)，所述定位板(101)的前端开设有开槽(102)，所述定位板(101)的顶端开设有第一滑槽(103)，所述第一滑槽(103)与放大器(4)相适配。

3.根据权利要求2所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述伸缩挡板(2)包括防滑挡板(201)，所述防滑挡板(201)位于定位板(101)的前端，所述防滑挡板(201)与定位板(101)相适配，所述防滑挡板(201)的内端固定连接有防滑内板(202)，所述防滑内板(202)位于开槽(102)的内部，所述防滑内板(202)与开槽(102)滑动连接。

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述防滑挡板(201)的顶端开设有第二滑槽(203)，所述第二滑槽(203)均匀第一滑槽(103)、放大器(4)相适配。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述接电器(3)包括电源接口(301)安装有定位板(101)的右端，所述定位板(101)的外部安装有接电头(302)，所述接电头(302)与电源接口(301)电性连接，所述接电头(302)与接电端子(6)相适配。

6.根据权利要求4所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述放大器(4)包括立轴(401)，所述立轴(401)位于第一滑槽(103)的内部，所述立轴(401)均与第一滑槽(103)、第二滑槽(203)相适配。

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述立轴(401)的顶端安装有第一万向轴(402)，所述第一万向轴(402)的外端安装有伸缩杆(403)。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试治具，其特征在于：所述伸缩杆(403)的一端安装有第二万向轴(404)，所述第二万向轴(404)的外端安装有放大镜(405)，所述放大镜(405)均与接电头(302)、接电端子(6)相适配。