1.一种便于调节的芯片测试用定位装置，包括底座(1)，其特征在于：所述底座(1)的内侧固定连接有位置调节组件(2)，所述位置调节组件(2)包括纵向调节组件(21)、横向调节组件(22)和测试组件(23)，且所述纵向调节组件(21)能够带动测试组件(23)进行纵向位置调节，且所述横向调节组件(22)能够带动测试组件(23)进行横向位置调节。

2.根据权利要求1所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述纵向调节组件(21)包括纵向调节电机(211)和第一移动块(214)，所述纵向调节电机(211)的输出端固定连接有第一螺纹杆(212)，且所述纵向调节电机(211)带动第一螺纹杆(212)转动，能够带动第一移动块(214)进行纵向位置调节。

3.根据权利要求2所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述纵向调节组件(21)还包括滑杆(213)，所述第一移动块(214)套接在滑杆(213)的侧面，且所述滑杆(213)能够增强第一移动块(214)移动时的稳定性。

4.根据权利要求1所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述横向调节组件(22)包括横向调节电机(221)，所述横向调节电机(221)的输出端固定连接有第二螺纹杆(222)，所述第二螺纹杆(222)的侧面螺纹连接有第二移动块(223)，且所述横向调节电机(221)带动第二螺纹杆(222)转动，能够带动第二移动块(223)进行横向位置调节。

5.根据权利要求1所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述底座(1)的内部固定连接有移动组件(4)，所述移动组件(4)包括移动电机(41)，所述移动电机(41)的输出端固定连接有第三螺纹杆，所述第三螺纹杆的侧面螺纹连接有移动板(42)，所述移动电机(41)带动第三螺纹杆转动，能够推动移动板(42)对芯片进行收纳和推出。

6.根据权利要求1所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述底座(1)的侧面铰接有开关门(5)，所述开关门(5)的侧面固定连接有合页(51)，且开关门(5)的侧面固定连接有阻尼减震弹簧，所述阻尼减震弹簧用于开关门(5)的自动关闭。

7.根据权利要求1所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述底座(1)的上表面固定连接有玻璃罩(6)，所述玻璃罩(6)用于对检测中的芯片进行隔离保护。

8.根据权利要求5所述的一种便于调节的芯片测试用定位装置，其特征在于：所述移动板(42)的上表面固定连接有夹持组件(3)，所述夹持组件(3)包括夹持框(31)，所述夹持框(31)的侧面固定连接有气泵(32)，所述夹持框(31)的内侧固定连接有气囊(33)，且通过所述气泵(32)对气囊(33)充气，对芯片进行夹持固定。