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专利号: 2023234518598
申请人: 赵秀英
专利类型:实用新型
专利状态:已下证
专利领域: 测量;测试
更新日期:2025-03-25
缴费截止日期: 暂无
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摘要:

权利要求书:

1.一种用于测试电子元件的测试治具,包括内部设置有计算机的检测台(1),所述检测台(1)上设置有放置槽(3),所述放置槽(3)的内部设置有检测电路板,其特征在于,所述检测台(1)上设置有指示灯(2)、控制开关(8),所述检测台(1)的中部固定连接有支撑架(4),所述支撑架(4)上固定连接有电动推杆(7),所述电动推杆(7)的输出端穿过支撑架(4)固定连接有移动板(5),所述移动板(5)的下部固定连接有放置架(13),所述放置架(13)上设置有让位槽(11),所述放置架(13)的中部固定安装有双输出轴气缸(10),所述双输出轴气缸(10)的输出端固定连接有夹持板(9),所述夹持板(9)与放置架(13)之间设置有容纳腔,所述容纳腔内设置有电子元件主体(12)。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述移动板(5)上固定连接有限位杆(6)。

3.根据权利要求2所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述限位杆(6)从支撑架(4)穿过,且相互之间为滑动连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述限位杆(6)的数量有两个,且为轴对称设置。

5.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述夹持板(9)靠近电子元件主体(12)的一侧面固定连接有弹性垫。

6.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述检测电路板上设置有引脚插孔,所述电子元件主体(12)的引脚与引脚插孔相互配合。

7.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述指示灯(2)的数量至少有两个。

8.根据权利要求1所述的一种用于测试电子元件的测试治具,其特征在于,所述支撑架(4)的纵截面的形状为倒置的U形。

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