1.一种电子元件的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

采集待测电子元件在不同频率的正弦信号下的电压值和电流值，输入信号和输出信号的幅度值，汇总建立测试数据集；

通过待测电子元件在不同频率下的电压值和电流值，计算待测电子元件在不同频率下的阻抗值和导纳值，将阻抗值或导纳值以及对应的频率结合，计算获得阻抗值或导纳值随频率变化的斜率，进一步计算获得待测电子元件的性能稳定系数；

通过输入信号幅度和输出信号幅度，计算出待测电子元件的信号衰减指数，根据不同频率下的信号衰减指数和参考频率下的信号衰减指数，计算获得待测电子元件的性能衰减系数；

将性能稳定系数和性能衰减系数归一化处理至[0,1]区间，计算获得电子元件的性能评估值；

预先设置第一评估阈值和第二评估阈值，将电子元件的性能评估值分别与第一评估阈值和第二评估阈值进行比对，根据比对结果作出相应的措施。

2.根据权利要求1所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，使用信号源生成一系列不同频率的正弦信号，信号频率从低频开始逐渐升高至高频，分别测量待测电子元件在不同频率下的电压值和电流值，输入信号和输出信号的幅度值。

3.根据权利要求1所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，通过待测电子元件在不同频率下的电压值和电流值，计算待测电子元件在不同频率下的阻抗值和导纳值，计算公式如下：其中，Z表示阻抗，U表示电压，I表示电流，R表示阻抗的实部，X表示阻抗的虚部，Y表示导纳，G表示导纳的实部，B表示导纳的虚部，j表示虚部单位。

4.根据权利要求3所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，通过待测电子元件在不同频率下的阻抗值和导纳值，以频率为横轴，阻抗值或导纳值为纵轴，绘制随频率变化的阻抗值曲线图或导纳值曲线图。

5.根据权利要求4所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，根据阻抗值或导纳值曲线图，将阻抗值或导纳值以及对应的频率结合，进行无量纲处理后，计算获得阻抗值或导纳值随频率变化的斜率，进一步计算获得待测电子元件的性能稳定系数，对待测电子元件在不同频率下的性能变化进行分析，计算公式如下：其中，Rf表示性能稳定系数，i表示每个频率下阻抗值或导纳值的编号，i＝1,2,…,n，n为正整数，f

6.根据权利要求1所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，通过输入信号幅度和输出信号幅度，对待测电子元件在不同频率下信号衰减程度进行评估，计算出待测电子元件的信号衰减指数，计算公式如下：其中，Sa表示信号衰减指数，A

7.根据权利要求6所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，根据不同频率下的信号衰减指数，和参考频率下的信号衰减指数，对待测电子元件的信号衰减波动进行分析，计算获得待测电子元件的性能衰减系数，计算公式如下：其中，Pf表示性能衰减系数，j表示每个频率下信号衰减指数的编号，j＝1,2,…,m，m为正整数，Sa

8.根据权利要求7所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，将性能稳定系数和性能衰减系数归一化处理至[0,1]区间，通过性能稳定系数和性能衰减系数，对电子元件的性能进行评估，计算获得电子元件的性能评估值，计算公式如下：其中，Ef表示性能评估值，Rf表示性能稳定系数，Pf表示性能衰减系数，k

9.根据权利要求1所述的一种电子元件的测试方法，其特征在于，预先设置第一评估阈值和第二评估阈值，将电子元件的性能评估值分别与第一评估阈值和第二评估阈值进行比对，根据比对结果作出相应的措施，具体包括：当性能评估值<第一评估阈值时，表示电子元件的性能稳定，且性能衰减程度低，无需作任何处理；

当第一评估阈值≤性能评估值≤第二评估阈值时，表示电子元件的性能稳定性一般，且性能衰减程度较高，将电子元件标记为不合格，提示需要进行返工或修复；

当性能评估值>第一评估阈值时，表示电子元件的性能不稳定，且性能衰减程度高，将电子元件标记为严重不合格，提示需要进行报废处理。

10.一种电子元件的测试系统，用于实现权利要求1至9中任一项所述方法，其特征在于，包括数据采集模块、性能稳定分析模块、性能衰减分析模块以及结果判定模块；其中，数据采集模块，采集待测电子元件在不同频率的正弦信号下的电压值和电流值，输入信号和输出信号的幅度值，建立测试数据集；

性能稳定分析模块，通过待测电子元件在不同频率下的电压值和电流值，计算待测电子元件在不同频率下的阻抗值和导纳值，将阻抗值或导纳值以及对应的频率结合，计算获得阻抗值或导纳值随频率变化的斜率，进一步计算获得待测电子元件的性能稳定系数；

性能衰减分析模块，通过输入信号幅度和输出信号幅度，计算出待测电子元件的信号衰减指数，根据不同频率下的信号衰减指数，和参考频率下的信号衰减指数，计算获得待测电子元件的性能衰减系数；

结果判定模块，将性能稳定系数和性能衰减系数归一化处理至[0,1]区间，通过性能稳定系数和性能衰减系数，计算获得电子元件的性能评估值，对电子元件的性能进行评估，预先设置第一评估阈值和第二评估阈值，将电子元件的性能评估值分别与第一评估阈值和第二评估阈值进行比对，根据比对结果作出相应的措施。