1.一种芯片检测分选设备，包括电气柜(1)、机械手(4)、安装在机械手(4)自由端的真空吸盘(5)和工业相机(10)，其特征在于，还包括：固定连接在电气柜(1)上的输送架(2)，所述输送架(2)上滑动连接有输送框(44)，所述输送框(44)内转动连接有放置框(3)，所述放置框(3)的两端均固定连接有定位机构，所述输送架(2)上开设有翻面槽(11)；

固定连接在输送架(2)上的注气管(27)，所述注气管(27)上固定连接有喷气管(28)，所述喷气管(28)的喷气端设置在翻面槽(11)内，其中，芯片放置于放置框(3)内且放置框(3)的尺寸与芯片的尺寸相适配。

2.根据权利要求1所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，还包括固定连接在输送架(2)顶部的上抽气罩(12)，所述上抽气罩(12)的顶部固定连接有上抽气管(14)，所述上抽气管(14)上固定连接有连接管(22)，所述上抽气管(14)内固定连接有固定架(16)，所述固定架(16)上安装有电机(17)，所述电机(17)的输出端固定连接有转轴(18)，所述转轴(18)上固定连接有扇叶(19)，所述转轴(18)远离电机(17)的一端固定连接有清理杆(20)，所述清理杆(20)远离转轴(18)的一端固定连接有清理刷(21)，所述清理刷(21)与芯片相贴合，所述清理杆(20)转动连接在上抽气罩(12)内。

3.根据权利要求2所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，所述输送架(2)的内部固定连接有下抽气罩(13)，所述下抽气罩(13)的底部固定连接有下抽气管(15)，所述下抽气管(15)与连接管(22)相连通，所述固定架(16)、电机(17)、转轴(18)和扇叶(19)还安装在下抽气管(15)内，且下抽气罩(13)内同样安装有清理杆(20)和清理刷(21)。

4.根据权利要求2所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，还包括固定连接在连接管(22)上的输气管(23)，所述输气管(23)的端部固定连接有清理管(24)，所述清理管(24)远离输气管(23)的一端固定连接有连接软管(25)，所述连接软管(25)远离清理管(24)的一端固定连接有滑板(26)，所述滑板(26)的顶部固定连接有滑架(9)，其中，所述输送架(2)的两侧均固定连接有限位架(8)，所述滑架(9)与限位架(8)滑动连接，所述工业相机(10)安装在滑架(9)的内顶部，所述滑板(26)与注气管(27)滑动连接，所述电气柜(1)的顶部固定连接有滑座(49)，所述滑板(26)与滑座(49)滑动连接。

5.根据权利要求4所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，还包括滑动连接在清理管(24)内的滤网(29)，所述滤网(29)的一侧固定连接有第一磁杆(30)，所述第一磁杆(30)上套设有抖动弹簧(32)，其中，所述清理管(24)内固定连接有限位套(31)，所述第一磁杆(30)与限位套(31)滑动连接，所述抖动弹簧(32)的两端分别与滤网(29)和清理管(24)固定连接，所述抖动弹簧(32)套设在限位套(31)上。

6.根据权利要求5所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，还包括固定连接在滑板(26)上的推杆(37)，所述推杆(37)内固定连接有弹性连接绳(38)，其中，所述注气管(27)的端部固定连接有第二磁套(39)，所述第二磁套(39)上固定连接有连接弹簧(43)，所述连接弹簧(43)与滑板(26)固定连接，所述推杆(37)的端部贴合有第三磁杆(36)，所述第三磁杆(36)的一端与弹性连接绳(38)固定连接，所述第三磁杆(36)的另一端固定连接有连接架(35)，所述连接架(35)远离第三磁杆(36)的一侧固定连接有第二磁杆(34)，所述清理管(24)的端部固定连接有第一磁套(33)，所述推杆(37)与第二磁套(39)滑动连接，所述第三磁杆(36)与第二磁套(39)相吸合，所述第二磁杆(34)与第一磁套(33)滑动连接且二者相互吸合。

7.根据权利要求6所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，还包括固定连接在注气管(27)内的复位弹簧(42)，所述复位弹簧(42)的端部固定连接有磁板(40)，所述磁板(40)靠近复位弹簧(42)的一侧固定连接有限位杆(41)，其中，所述限位杆(41)与注气管(27)滑动连接，所述磁板(40)与连接架(35)相吸合。

8.根据权利要求1所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，所述定位机构包括开设在放置框(3)内的滑槽(46)，所述滑槽(46)内滑动连接有定位头(47)，所述定位头(47)的一端固定连接有定位弹簧(48)，其中，所述输送框(44)内开设有定位孔(45)，所述定位头(47)远离定位弹簧(48)的一端与定位孔(45)相适配，所述定位弹簧(48)远离定位头(47)的一端与滑槽(46)固定连接。

9.根据权利要求4所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，所述电气柜(1)的顶部安装有显示屏(6)，所述电气柜(1)的顶部安装有控制面板(7)，所述机械手(4)安装在电气柜(1)的顶部。

10.一种芯片检测分选方法，采用权利要求1-9任一项所述的一种芯片检测分选设备，其特征在于，包括如下步骤：步骤一：将芯片放置于放置框(3)内；

步骤二：通过输送架(2)、输送框(44)和放置框(3)对芯片输送；

步骤三：输送的过程中，启动电机(17)使得清理刷(21)对芯片的正面和背面清理，并同时启动工业相机(10)进行拍摄；

步骤四：芯片输送至翻面槽(11)所在部位时，自动翻面，工业相机(10)对芯片的背面进行拍摄；

步骤五：合格的芯片机械由输送框(44)和放置框(3)输送至下一工位，不合格的芯片由机械手(4)和真空吸盘(5)将不合格的芯片取下，放置于次品收集框内，并通过显示屏(6)显示。